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[参考译文] CD74HC85:RN3的低阻抗是否受 CD74HC85M 本身设计参数的影响?

Guru**** 2487425 points
Other Parts Discussed in Thread: CD74HC85

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/logic-group/logic/f/logic-forum/1392623/cd74hc85-is-the-reason-for-the-low-impedance-of-rn3-affected-by-the-design-parameters-of-cd74hc85m-itself

器件型号:CD74HC85

工具与软件:


如上面的图3所示、RN3连接到 U3和 U9芯片、RN3是10K 电阻棒、U3和 U9是芯片 CD74HC85M。 当我们测量 RN3位置的电气抑制阻抗时、在许多情况下、阻抗值最小为1k、后者直接连接到一些材料的引脚 U3和 U9。 我们想要分析 RN3出现低阻抗的原因、它是否受 CD74HC85M 设计参数的影响?
一些早期操作:
1在1-2个批次中、焊接完成后、在 ICT 测试之前、使用万用表直接测量电阻库的阻抗、还发现低阻抗。
2从 PCB 板上取下 RN3位置的正常异常 CD74HC85M 芯片后、使用万用表测量连接到 RN3的引脚阻抗、同样也有所不同
3、目前的处理方法是在信通技术检测有偏差时直接替换新材料,然后在替换后再次测试,可以正常通过信通技术检测。

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    四个 P 输入为高阻抗 CMOS 输入、因此、只要 U3/U9通电且同轴电压不超过5V、它们就不会以任何方式影响 RN3测量。但当 U3/U9未通电或同轴信号悬空时、从输入到 VCC 的钳位二极管会阻止您测量 RN3。

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    如上面的步骤1-3所述、无论是在 ICT 测试之前进行的万用表测试、还是在 ICT 测试之前进行的万用表测试、都没有超过5V 的电源。 我们是否应该理解当电阻组 RN3的电阻值不正确时、该芯片已经出现故障或隐藏了故障、需要更换?

    如果在系统上电后对被认为有故障或存在潜在故障的芯片进行功能测试、并且器件本身只有在5V 的电压下通电、芯片的功能是否会受到影响?

    如果对器件的功能没有影响、是否仍需要更换此芯片?

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    您尚未描述您的测量或测试的确切工作方式。 与上拉电阻并联的钳位二极管的阻抗要低得多。

    据我了解、你们有两组芯片的性能不同、换掉损坏的芯片会让电路正常工作吗? 逻辑输入中没有任何东西会损坏电阻器。 电阻器比逻辑器件可靠得多、因此如果电阻器损坏(可能是因过压而损坏)、则连接到电阻器的其他器件也损坏的可能性非常高。

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    我们进行了以下测试:

    处理 PCBA 板后、使用万用表测量电阻组 RN3的电阻值1 (+)~2 (-)和1 (+)~3 (-)、并发现某些电阻值存在偏差。 电阻偏差较大的 PCBA 定义为电路板1、正常电阻对应的 PCBA 定义为电路板2

    1) 1)此时、从电路板1上拆下 RN3、然后用万用表再次测量其电阻。 电阻值约为10K、初步判断为 RN3正常。 导致电阻偏差的因素可能是 CD74HC85。

    2) 2)再次从板1上拆下 CD74HC85、同时从板2上拆下 CD74HC85。 通过比较电路板1和电路板2中 CD74HC85引脚的电阻值、可发现它们的电阻值存在差异。

    3) 3) Re 将 RN3和 CD74HC85从板1焊接到板2、并按照与步骤1相同的过程再次测量 RN3引脚之间的电阻。 随后、电路板1和电路板2按顺序放置在功能测试平台上、这两种类型的电路板都通过了功能测试。

    4) 4)按顺序放置电路板1和电路板2进行 ICT 测试。 电路板1将报告 RN3电阻低的误差、而电路板2可以正常通过。

    问题:连接到工厂 RN3的 CD74HC85的引脚10、12、13、15和16之间是否设计了任何阻抗差异?

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    引脚10/12/13/15为高阻抗 CMOS 输入。 它们相对于 VCC 和 GND 的电阻应该接近无穷大。 但如果测量的方向错误、则会以未指定的电阻(不同芯片之间可能会有所不同)测量钳位二极管。 在第二种情况下、最好使用二极管测试模式并检查您是否获得大约0.7V 的正常硅结压降

    请具体说明具体如何测量引脚以及结果值。