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[参考译文] CD4047B:CD4047BM96芯片故障问题需要检查原理图

Guru**** 2383240 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/logic-group/logic/f/logic-forum/1426513/cd4047b-the-cd4047bm96-chip-failure-issue-requires-a-schematic-check

器件型号:CD4047B

工具与软件:

标准:
(1) CD4047要求电源电压范围为3-18V
(2)功耗:功耗=静态功耗+输出电流
静态功耗≤120uA、输出控制 MOS、输出引脚上几乎没有电流、总体来说应< 1mA
实际测量值:约为3.3mA、高温下超出指定值

请帮助检查原理图

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    尊敬的 Tony:

    我在原理图中看不到任何错误。 您能详细描述一下您观察到的导致失败的行为吗? 故障输出和输入驱动的示波器屏幕截图、最好能快速获得帮助。

    此致、

    Owen

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    客户现场反馈:一台 AM3071EX 在恢复过程中报告 C-15A 机箱的第十个通道出现断开故障、输出信号延迟
    间歇性继续;移除原型并重新测试 AI 输出和分配电压、结果正常、如下图所示。


    ①从高温环境中取出有缺陷的产品后、该产品立即通电、指示灯熄灭约一小时。 CD4047输出不是正
    恒定:无波形输出、R12上有一个大约10V 的电压;
    ②当有缺陷的产品被留在实验室环境中一段时间后、它被通电、并使用150 ℃ /风速下的热风机恢复正常运行
    速度1:吹动电源变压器周围的空气、指示灯熄灭;(注意:CD4047位于电源变压器附近)
    ③将有缺陷的产品留在实验室环境中一段时间后、打开电源、指示灯将亮起[恢复正常运行]。 使用热风机进行清洁
    CD4047吹风约10秒钟、但输出信号断开、指示灯熄灭;
    3.交叉验证:用新的 CD4047替换有缺陷的产品,并使用热风机吹出 CD4047。 30秒后未发现任何问题
    好的、用有故障的 CD4047更换正常产品、然后使用热风机吹扫 CD4047。 大约10秒后、出现了该缺陷、
    4.交叉验证:在高温环境中、用新的 CD4047替换有缺陷的产品、用有缺陷的 CD4047替换正常产品
    (-20 ℃ CD4047 -60 ℃ 周期) 4h、输出信号的持续监控:用新的20 ℃ 更换有缺陷的产品、正常运行、正常生产
    在将产品更换为有缺陷的 CD4047的过程中、发生了三次断线情况、如图所示

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    或许这种描述更为准确:

    客户报告、一个 AM3071EX 装置在 C-15A 机箱的通道10中遇到断线故障、输出信号间歇性。 移除样片进行测试后、发现 AI 输出和配电电压正常、如下图所示。

    1、高温仿真:将有缺陷的单元置于高温环境下( 20°C -60°C -20°C 周期) 4小时,连续监测输出信号。 在加热过程中、输出信号中断、

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    尊敬的 Tony:

    听到这种解释后、似乎我们的器件在测试中被损坏。 我把这一点带到了更广泛的团队、我们认为其中一个问题是输出端流经4.7K 电阻上方二极管的大电容器。

     

    与该二极管串联的电阻器可防止接地短路、从而导致器件消耗的功率超过预期(并可能损坏它)。

    是否有可能获得一些更高质量的波形图像? 很难从以前提供的内容中辨别这种行为。

    此致、

    Owen

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    图1 (TP13-TP15)

    图2 (TP11-TP16)

    图3 (TP14-TP18)

    请帮助查看是否有任何问题。 本芯片最初是为了查找 FA 分析的质量、但我们需要先征询您对当前质量的意见。 请帮助再次确认、谢谢!

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    谢谢你。 我在研究这个。

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    尊敬的 Tony:

    我在这些波形中看不到任何问题。

    与该二极管串联的电阻器将防止对地短路、这将导致器件消耗的功率高于预期(并可能损坏它)

    在端口10和端口11上的这一点仍然是本次原理图审阅中我需要关注的领域。

    我在这里没有看到任何其他明显的失败原因。

    此致、

    Owen