[参考译文] SN74LVC1G00：可复位性报告 ESD

admin

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请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

器件型号：SN74LVC1G00

工具与软件：

您好！

1.关于数据表中提到的 ESD 保护、是否有相关的可靠性报告？制造商进行此类测试的频率如何？

2.在 IC 生产过程中是否执行了 ESD 相关测试？请提供测试频率？

3.跟进上述情况,是否有 ESD 测试日志可供进一步验证?

谢谢！

Jeff

0 admin 10 个月前

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尊敬的 Jeff：

ESD 测试仅在鉴定期间进行、我们通常仅在首次制造器件或进行重大修订(如裸片更改)时才进行。我们现有的可靠性报告提供了 HBM 为2000V、CDM 为1500V。我可以通过几种方式查看已针对特定器件执行的所有已记录的质量和可靠性测试历史记录、否则没有单个文档记录器件已收到的 ESD 测试数量。

此致！

Malcolm

逻辑（参考译文帖）(Read Only)