器件型号： MCT8316Z
我有一个带有微控制器的定制电路板、它控制两个 MCT8316Z0TRGFR。
除了我们的一些电路板（20 个中的 5 个）外、MCT8316Z0TRGFR 不会切换方向、尽管我们检查了 DIR 输入切换。
论坛帖子建议 MCT8316Z0TRGFR 在上电期间由于某种原因进入“测试模式“、然后其行为与正常模式不同（包括方向切换）。
在哪里可以找到有关测试模式的文档、尤其是如何避免该模式以及在意外进入时如何从测试模式恢复？
谢谢、
Ralf
尊敬的 Rajesh、Venkatadri、
在等待答复的同时,我做了一些研究,并找到了一些论坛帖子,这可能是相关的:
这似乎是我遇到的同样/类似的现象,但没有给出解决办法。
同样、相同的现象。 给出的解决方案是修改评估板以提高 nFault 级别。
实际上、我们使用上拉至 AVDD（配置为 3.3V）：
顺便说一句、这与数据表应用图中建议的完全相同。
为了给您提供更多详细信息：AVDD 是内部 LDO 的输出。 上电时、nSleep 引脚会拉至高电平、进而启动 DC/DC 转换器和 LDO。 上升时间取决于我们按照数据表中的建议准确选择所使用的电感器和电容器。
启动时、nFault 和 AVDD 会同时上升、直到达到 3.3V。
我想我的问题是：
如何对 nFault 进行采样以确定使用哪种模式（正常模式或测试模式）？
2.如何满足条件以避免进入测试模式?
3.是否有办法在设备意外进入测试模式的情况下退出测试模式?
谢谢、
Ralf
尊敬的 Rajesh：
原理图与数据表中建议的完全相同（修订版 B；第 9.1 节）。
只有两个偏差：
两个 MCT8316ZH 的 nFault 连接在一起（进行“或“运算）、这应该可以正常工作、因为 nFault 为开漏。
2.为了克服原理图上的死锁（只要 nSleep 未拉高、AVDD 就无法用于驱动微控制器）、我们添加了一个小型电路来实现自举 AVDD：
AVDD 会拉至~2、5V、以启动微控制器、进而将 nSleep 拉高、并启动 MCT8516ZH 的 DC/DC 转换器和 LDO。
同时,请看看我的解释,特别是我提到的其他论坛帖子。 并回复 a.s.a.p.
主要问题是：nFault 的水平在何时达到>2.2V？
谢谢、
Ralf
