Other Parts Discussed in Thread: DRV7308, DRV7308EVM
器件型号: DRV7308
大家好、我正在设计一个基于 DRV7308 芯片的电路、并有以下问题:
1 — 实际结温与根据 VTEMP 计算出的温度之间有多大的差异? 这种差异是否取决于芯片的功率损耗?
数据表中列出的结至环境热阻为 21.2°C/W、这是用于评估板 (DRV7308EVM) 还是在标准板上进行测量?
感谢您的帮助、
Hamzeh
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器件型号: DRV7308
大家好、我正在设计一个基于 DRV7308 芯片的电路、并有以下问题:
1 — 实际结温与根据 VTEMP 计算出的温度之间有多大的差异? 这种差异是否取决于芯片的功率损耗?
数据表中列出的结至环境热阻为 21.2°C/W、这是用于评估板 (DRV7308EVM) 还是在标准板上进行测量?
感谢您的帮助、
Hamzeh
尊敬的 Hamzeh:
感谢您的提问!
1.热温度传感器的位置如下所示、因此它不直接监测 GaN 温度。 在热仿真期间、我们看到 VTEMP 传感器的放置位置与 B 相高侧 FET(该 FET 是该特定仿真的电路板上最热点)之间存在 10°C 的温差。 该温差可能会有所不同、具体取决于应用中器件上哪个点最热(受布局影响)。 如果是低侧 FET、则意味着热源更接近温度传感器、因此很可能不会出现 10°C 的差异。

2.数据表的 θ JA 基于 JEDEC 标准 PCB、不同布局下的实际热性能有所不同。 EVM 可能接近此值、但我们没有为 EVM 获取确切的 θ JA。 DRV7308 热计算器有一个图形显示 PCB 面积、层数和铜厚度对 θ JA 的影响
此致、
Anthony Lodi