[参考译文] DRV8300：DRV8300DPWR 在电路板测试期间发生故障 — 申请布局和保护审查

您好：

所选 MOSFET 的 Qgd 和 Qg 总值是多少？ 您可能需要增加栅极电阻器、这可能是器件损坏的常见原因。 如果 MOSFET 由过大的栅极电流驱动、那么这可能会给器件带来问题。

1.是否有设备运行和/或损坏情况的波形? 这将帮助我确定问题并推荐解决方案。

2、设备的故障模式是什么,例如哪些引脚损坏? 故障率是多少？

谢谢、

Joseph

您好 Joseph、

感谢您的快速答复。

请查看我们在设计中使用的 MOSFET 的数据表。 与原始原理图相比、我们已经尝试增加栅极电阻器。 我们当前使用的是 33 欧姆栅极电阻器。

我附上了一个包含波形、X 射线检查图像的 ZIP 文件。 以下是与您的问题相匹配的详细信息：

1.操作和故障情况下的波形

在 ZIP 文件中、您将找到以下波形：

• 图 27： 运行期间的单电机相位。

• 图 28： 所有 3 个电机相位概览。

• 图 29： 在低侧 MOSFET 的栅极电阻之前测量的驱动器输出信号。

• 图 30： 在高侧 MOSFET 的栅极电阻之前测量的驱动器输出信号。

我们还成功捕获了 部分损坏的模块 （IC 仍在 PCB 上）的波形。 您可以看到其中一个驱动输出（A 相）在某些情况下无法变为高电平：

• 图 32： 电机相位输出显示异常行为。

• 图 33 和 34： 显示故障情况的高侧驱动器输出。

2、故障模式、针脚损坏和故障率

在我们的开发和预量产测试期间使用的大约 10 个原型样片中、我们出现了 3 次器件故障。 我们正计划在未来的 几个 Thound 装置的生产运行。

我们分析了这些故障、发现完全损坏的 IC 有两种不同的情况、外加一种局部故障：

• IC 1（完全损坏）： 显示 针脚 7  和 针脚 8 之间的直接短路 。

• IC 2（完全损坏）： 显示多个针脚之间的巨大短路： 7、8、9、10、11、 14、15、16 和 17 。

• IC 3（部分损坏）： 仍安装在电路板上。 附加了 X 射线图像、其波形为上面列出的图像（图像 32、33、34）、显示了高侧驱动故障。

此致、

e2e.ti.com/.../VB-Semi-VBGQA1805.pdfe2e.ti.com/.../DRV8300-IMAGES.zip