[参考译文] DRV8426E：关于短路测试

Nishie-San、

现在是美国的假期。  我们将在星期一作出答复。  请等待我们的回复、然后再发布跟进。

此致、

Ryan

Nishie-San、

请参阅数据表的第7.3.8.3节。  这说明了短路事件的模拟电流限制、该模拟电流限制尝试在 IOCP 抗尖峰脉冲后发生 OCP 事件之前减小电流。  这和 Itrip 不一样……我不相信发生了 Itrip。   

此外、故障是否已锁存？  如果锁存、客户必须对 nSLEEP 或器件电源进行循环才能恢复。  如果锁存、则只能是 OCP 或 OTSD。  有时很难在 OTSD 中确定、因为芯片本身的温度上升速度非常快、摄像头的速度不足以拾取变化、或者热电偶的速度不够快。

此致、

Ryan

您好、Ryan - San、

感谢你的答复。

我还有其他问题。

1.我认为，在数据表的相关部分中，您提到的电流限制如下所示。 对吗？

'每个 FET 上的模拟电流限制电路通过移除栅极驱动来限制流经 FET 的电流。'

2.如果是、这是否意味着除了跳闸电路和 OCP 电路之外还有电流限制电路？

如果不是、我根本不理解在消隐时间内限制电流的因素、所以请给我详细的解释。

此致、

Nishie

您好、Ryan - San、

电流限制是 OCP 块的一部分。 它与 Itrip 电路不同。

->好的，我们要确认“电流限制是 OCP 块的一部分”。

- OCP 模块上除了 Itrip 电路外还有电流限制电路。

我们认识 到，传统 步进电机驱动器(如 DRV8881) 在 OCP 块上没有电流限制电路。

 DRV8426是否将其添加为全新功能？

此外、DRV84系列产品是否也具有相同的功能？

  - 数据表中没有 OCP 块上电流限制电路的详细说明。

  您能告诉我们以下几点吗？

1、电流上限是多少？ 在客户的波形上，电流限制似乎是7.4A。

2.电流上限的消隐时间是多少？ 什么都没有？

3.如果  OCP 模块上有电流限制电路，我们是否连接了预期行为的波形？

此致、

Nishie

您好、Ryan - San、

好的、我们在 OCP 块上有电流限制电路。

我们得到了我们附加的 Waveform1是预期行为。

但是、我们要确认 Waveform2。

尽管条件相同、但 Waveform1和 Waveform2之间仍存在差异。

对于 Waveform2、与 Waveform1相比、电流似乎快速下降。

是否与关注您的评论有关？

“电流将继续上升，直到 Rdson 作为限制栅极驱动的一部分而增加为止。 然后它将开始下降。 "

如果 Rdson 增大与 Rdson 没有任何关系、您是否有任何建议？
例如：在慢速衰减模式下的 Toff 期间，它会发生短路事件，可能是该问题，

然后、您提到了以下内容；

“此外，故障是否已锁存？ 如果锁存、客户必须对 nSLEEP 或器件电源进行循环才能恢复。 如果锁存、则只能是 OCP 或 OTSD。 有时在 OTSD 中很难确定，因为芯片本身的温度上升很快，摄像机无法快速地拾取变化，或者热电偶也不够快。”

->客户已检查故障锁存。 因此、故障只能是 OCP 或 OTSD。

 关于 OTSD、客户用手检查了器件、但没有发热。

尤其是、我们想知道 Waveform2原因的原因。

此致、

Nishie

您好、Ryan - San、

感谢你的答复。

在某些情况下、可以在 IOCP 之前达到 ITRIP。

->在波形2上，电流限制在100ns 内。

Itrip 的消隐时间= 1.0us。

然后、消隐时间开始在输出更改状态后计数。(请参阅以下 URL。)

"也可以在输出状态发生变化时使用。 消隐时间旨在避免状态变化期间发生虚假过流事件。"

https://e2e.ti.com/support/motor-drivers-group/motor-drivers/f/motor-drivers-forum/1090006/drv8426e-max-iocp-value-and-blanking-time/4037967#4037967

根据输出条件、消隐时间可能更短？

此外、nFault 似乎被置为有效。 是否在相同的时间内检测到跳闸和 OCP？

此致、

Nishie

Nishie-San、

您能告诉我应用此短路时的输入状态是什么...两个波形都是一样的？  

1)。 电机是否在移动和短路？  波形#1/#2的条件相同？

2) 2) 电机是否已加载？  

3) 3) 什么是衰减模式？

4) 4) 什么是 VREF？

5) 5) B 通道上观察到的行为是否相同？  

波形#2是否可重复？  在波形1中应用短路后是否立即在波形2中应用短路？  或者在短条件之间是否存在很长的时间？  如何清除短路之间的故障？  是否已对 nSLEEP 进行下电上电或下电上电？

此致、

Ryan

您好、Ryan - San、

您能告诉我应用此短路时的输入状态是什么...两个波形都是一样的？  

1)。 电机是否在移动和短路？  

>否

波形#1/#2的条件相同？

>是。

2) 2) 电机是否已加载？

>否  

3) 3) 什么是衰减模式？

>智能调优纹波控制

4) 4) 什么是 VREF？

>VREFA＝0.05V～0.1V

5) 5) B 通道上观察到的行为是否相同？

>通道 B 也发生了同样的现象

波形#2是否可重复？  在波形1中应用短路后是否立即在波形2中应用短路？  

>是。

或者在短条件之间是否存在很长的时间？  

>是

如何清除短路之间的故障？  是否已对 nSLEEP 进行下电上电或下电上电？

>释放 nFAULT 的锁存器后，将操作 SLEEP 引脚以恢复它。
(即使电源已打开/关闭、也会获得相同的结果。)

此致、

Nishie

Nishie-San、

如果不了解输入条件以及器件在短路时是否开始进行电流调节、则不确定如何解释。  器件能够承受的时间是否短？  如果是、那么客户的问题是什么？

此致、

Ryan

您好、Ryan - San、

客户关于波形2的问题包括：

・将 nFault 置为有效的原因
・μ s 短时间内的钳位与波形#1不同、但是否可以认为是由于 OCP 的限流电路？

此致、

Nishie

Nishie-San、

如果他们在第一次短接和连续短接之间等待更长的时间、他们是否仍然得到类似于#2的波形、或者每个短接看起来都像#1？  我想看看他们是可以等待30秒，还是在短时间之间等待一分钟。  这将使器件在短路之间冷却、这将帮助我更好地了解热保护是否在发挥作用。   

此致、

Ryan

Ryan - San、

我与客户进行了核实。
请稍等片刻。

此致、

Nishie

Ryan San

感谢您的合作！
我与 Nishie San 合作。

我们得到了您请求的波形。
请参阅附件文件。
e2e.ti.com/.../20220510_5F00_DRV8426.pdf

此致、

大田松本

Matsumoto-San、

谢谢！  似乎与热性能无关。  在这些短路事件期间、输入的状态是什么？  它们是完全转换还是保持在稳定状态？  如果保持稳定状态、每个输入引脚上的电压是多少？

此致、

Ryan

Ryan San

感谢你的答复。

在这些短路事件期间、输入的状态是什么？  
它们是完全转换还是保持在稳定状态？  如果保持稳定状态、每个输入引脚上的电压是多少？
->我们听说他们保持相同的输入条件，我们将再次确认。
  然后、我们将重新生成客户得到的波形。

作为参考、客户在进行简短测试之前获得了输入条件。
(请参阅波形。)

CH1=AEN、CH2=APH、CH3=AOUT1、CH4=AOUT2

此致、

大田松本

Ryan San

我们附加了客户在短路测试期间捕获输入条件的波形。
(CH1=AEN、CH2=APH、CH3=AOUT1、CH4=AOUT2)

输入似乎没有噪声、这些信号是 稳态3.3V。

此致、

大田松本

大家好、

我会检查关断行为的差异是否不是由执行短路的开关引起的。 我将直接检查开关两个触点上的电压波形、在短暂启动后、两个触点应保持不变。 如果开关为机械型、则可能会发生接触弹跳、但通常持续几毫秒而非几微秒。

此致、

Grzegorz

Grzegorz、

这是一个检查的好建议！  谢谢你。

此致、

Ryan

您好、Grzegorz-San、

感谢你的答复。

我会与我们的客户核实。

此致、

Nishie

您好、Crzegorz-San 和 Ryan-San、  

到目前为止发布的波形有一个测试引脚连接到客户电路板上器件的 OUT 端子、并且通过将引线与这个测试引脚接触来执行一个短路测试。
此外、还连接了使用机械开关执行短路测试时的波形。
我认为抖动不会产生任何影响、但我希望能有任何评论。

CH1：AOUT1、Ch2：nFAULT、Ch3：AOUT3、Ch4：短路电流

CH1：机械开关的两端、Ch2：nFAULT、Ch4：短路电流

此致、

Nishie

Nishie-San、

我对此没有任何解释。  CH1看起来像是被拉至 GND (或接近 GND)、然后在~2.5us 后自动恢复。  电流会回升并发生故障。  我检查了之前的一些图、发现 VM 和 VCP 似乎是稳定的。  VCP 是否相对于 VM 进行差分测量？  如果 VCP 崩溃、这可能会解释高侧折叠的原因。   

此致、

Ryan

您好、Grzegorz-San、

感谢你的建议。

您好、Ryan - San、

客户在以下条件下测量了波形。
①输出短路后、输入信号(APH、AEN)从低电平变为高电平。
纹波控制衰减
② μ s 将输入信号设置为高电平后、将输出短路。
混合衰减
-toff = 7us
③ μ s 将输入信号设置为高电平后、将输出短路。
混合衰减
-toff = 32us
每项测试连续执行5次、并获得相似的波形。

e2e.ti.com/.../DRV8426E_2C00_-short-test.pdf

根据这些数据，“如果 APH / AEN 在 H 状态下没有持续变化，则 Itrip 没有消隐时间，因此当达到跳闸电流时，它正在运行以进入衰减控制。” 识别是否正确？

此致、

Nishie

Nishie-San、

谢谢！  有好的线索、但我对您在下面强调的陈述感到困惑。  您能添加更多词语来帮助我理解吗？

如果 APH / AEN 在 H 状态下没有持续变化、则 ITRIP 没有消隐时间、因此当达到跳闸电流时、它正在运行以进入衰减控制

此致、

Ryan

您好、Ryan - San、

很抱歉、没有解释。
我们创建了有关测试条件和进行的短路测试的材料。
如果您可以检查所附文件和评论、我将不胜感激。

e2e.ti.com/.../20220526_5F00_DRV8426E.pdf

此致、

Nishie

您好、Ryan - San、

Grzegorz-San、

我能够理解这种现象。
感谢您的大力支持。

此致、

Nishie