尊敬的 TI 支持：
我有一款使用 DRV2605L 芯片来驱动 LRA 振荡器的产品。 我有一个问题涉及到我们到的很少的问题、直到现在、我们只在现场看到了这个问题、无论我们尝试了什么、都无法在我们的实验室中重现这个问题。 基于您对 DRV2605L 内部设计的了解、我希望您能帮助我将其调试到下一个阶段、这样我们就能确保我们将实施正确的修复...
假设 DRV2605L (在某些情况 下)可能会进入 www.ti.com/.../drv2605l.pdf 第20页中所述的"未知状态"。 但是、由于我不能故意引发问题、我无法100%肯定地说、但我们可以从现场看到的这一方向的一切。 基于此、我现在的问题是：
1) 1)处于"未知状态"时、H 桥 FET 处于活动状态以便恒定直流电流流经所连接的振荡器是否存在任何风险？ 或者、是否确实知道它只影响 I2C 通信、从而使芯片功能无法正常工作、但没有额外的电流消耗、这是另一种意外的副作用？ 或者、这种意外的电流消耗是否也可能发生(正如我目前所期望的那样)？
2) 2)处于"未知状态"时、I2C 肯定不起作用(根据数据表和其他 TI E2E 文章)、 但是、EN 引脚是否仍具有(部分)功能(即确定 H 桥是否处于活动状态？)、以便任何假定的直流电流(如问题1中所建议的)都会受到 EN 引脚为高电平或低电平的影响？ 或者、EN 引脚是否在更早的位置进入"控制和回放引擎逻辑"、以便其用法/状态也不确定？ 我现在的假设(但不像上面所说的那样确定)是 EN 引脚状态可能仍对 IN 1产生一些影响)建议的电流消耗、但我希望您检查/确认/拒绝...
3) 3)是否有任何方法可以确保在实验室中随机芯片上重现问题？ 根据其他 TI E2E 帖子、我猜不是这样、因为似乎并不是所有芯片都受影响。 我想问题取决于芯片晶圆的位置吗？ 或其他芯片间容差因素？
4) 4)假设"电压斜升过慢"、具有"锁定可能性"、始终"锁定"的芯片是否也是取决于温度、随机性等其他因素的概率函数？ 或者换句话说：如果我们能够将任何(有时-见)故障器件返回实验室进行进一步调查、我们是否有很好(更好)的机会重现问题？ 我知道这很难回答、但无论如何我也会请您"感觉好"？
5)是否正确地理解、除了实际确保电源电压上升足够快(最低3.6kV/s)(如第20页的数据表中所述)之外、没有其他方法可以解决/解决此问题、 为了使芯片在首次"锁定"时再次运行良好、唯一的方法是切断电源、并确保芯片在根据规格快速加电之后继续供电？
希望上面的问题是清楚的。 如果 需要更多信息、请随时联系我们、我很乐意尽力帮助您...
此致、并提前表示感谢
Søren μ A
