[参考译文] DRV8889-Q1：如何执行该测试 t (READY)、t (HI_nSCS)、tdis (nSCS)

尊敬的 David：

我们已经对规格进行了验证、并将这些规格发布到了数据表中。 我认为没有一种简单的方法可以精确测量这些参数。 例如、对于 t (READY)、t0必须在 VM > VRST 时立即启动、并开始 SPI 读取、直到成功读出已知寄存器默认值。 同样、对于 t (HI_nSCS)、您必须执行背靠背 SPI 事务并确定事务在什么 nSCS 高电平时间失败。 我从未见过任何客户进行过此验证。 请告知我们是否存在促使进行此验证的具体问题或疑虑。 谢谢。

此致、Murugavel

尊敬的 Murugavel：  

1.

chenwei chenwei 说：

我们已经验证了规范，并将这些规范发布在数据表中。

我想知道在哪一页提及此事？  

2.

chenwei chenwei 说：

VM > tdis

在数据表中、它的状态是标称值为1ms、所以如果结果大于1ms、这是可能的、结果是可以的吗？  

3.

chenwei chenwei 说：

t (HI_nSCS)您必须背靠背执行 tdis 事务，并查找事务发生故障的 nSCS 高电平时间。

作为测试工程师、我如何执行这种测试？ 如果您能提供产品说明书中的图片、  

4.  

chenwei chenwei 说：

我从未见过任何客户进行此验证。 请告知我们是否存在促使进行此验证的具体问题或疑虑。 [/报价]

这里也一样！ 对我们来说、这也是一项新功能。 这是我们全新 I2C 设计验证的一部分、因此请帮助我们解决此问题。

非常感谢、通过

大家好、

1.请看下文。 其中一个规范 t (HI_nSCS)中有一个拼写错误、它是最小值而不是最大值。   

2."VM > VRST,在数据表中它的状态是 Nom 为1ms ,所以如果结果大于1ms 是可以的,结果是可以的吗? "。 是的、没有问题。 任何时间>1ms。

3、我不熟悉测试仪。 我不确定如何使用测试仪来执行此操作。 数据表中已指定 t (HI_nSCS)。 可以在应用中使用任何大于 MIN 参数的值。

4.您说过"这是我们针对 I2C 的全新设计验证的一部分"。 DRV8889-Q1没有 I2C。 它采用 SPI 接口。 我们执行的所有测试都是 TI 专有的。 您可以根据器件数据表建立测试协议、该数据表是我们针对该器件提供的公共信息。

如果您有有关 SPI 的具体问题、我们可以解答。 您可能已经注意到、MIN 规格是 SPI 器件在器件的建议工作条件下可支持的最快速度。 保证任何高于最小值或标称值的时序都不会出现任何问题。  

谢谢你。   

大家好、

谢谢你。 希望我的输入对您有所帮助。 请 David 或您自己在结束时关闭此线程。

此致、Murugavel

尊敬的 Murugavel：  

抱歉、我还有一个问题。 这一个仍然相关.  

chenwei chenwei 说：

t (ready) t0必须在 VM >后立即启动并开始执行 tdis 读取、直到成功读出已知的寄存器默认值。 [/报价]

在 SPI 数据表中、它指出大于1ms、但另一方面、它指出最大值为0.9ms。 那么、哪一个是正确的？

我们很难想象这种情况、因为当我们进行检查时、没有关于 t (READY)的信息

噢、还有另外一个、  

哪一个是 VRST 引脚？

是否是 DRV_OFF 是 VRST 引脚？

谢谢！

过孔

大家好、

最大值0.9ms 来自 VM > UVLO、而1ms NOM 来自 VM > VRST。 我会考虑"从 VM > UVLO 此处所需的时间为4.45V + 0.9ms"、根据您的电源电压斜升时间、该时间可能会达到1ms 或略超过1ms。  

VRST 是复位的 VM 电压。 它是一个 VM 电压电平、不是引脚。

此致、Murugavel

尊敬的 Murugavel：  

那么，我该如何测试它呢？  

我是否应该将它与 VIN 和 CS 进行比较以检查时间？  

谢谢！  

过孔

大家好、

CS (nSCS)是 DRV8889-Q1的外部输入。 您无法使用它来检查时间。 您可能已经对可写寄存器执行 SPI 写入和读取、例如具有已知值的 CTRL1 2或3、并进行比较以查看读回是否与写入的值匹配。 这必须足够快地完成、才能找出在写入后获得有效读取所需的时间。  

此致、Murugavel

尊敬的 Murugavel：  

因此，它只能由我认为的软件进行测试吗？  

因为这不是我的专长、让我与我们的软件工程师讨论、让您知道  

谢谢！

过孔