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[参考译文] MSP430FR5969-SP：单粒子效应测试引导加载程序和固件

admin
Guru**** 2933740 points

Other Parts Discussed in Thread: MSP430FR5969-SP, MSP430FR5969

请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/msp-low-power-microcontrollers-group/msp430/f/msp-low-power-microcontroller-forum/1498981/msp430fr5969-sp-single-event-effects-test-bootloader-and-firmware

器件型号：MSP430FR5969-SP
主题中讨论的其他器件： MSP430FR5969

工具/软件：

大家好、我正在从事耐辐射应用领域的工作、想知道是否可以提供 SLAK026"MSP430FR5969-SP 的单粒子效应测试报告"中所述的定制引导加载程序以及可能的固件。 对于最常见的辐射事件类型、它们似乎是错误恢复的关键组件、最好拥有一个经过验证的参考设计。 此外、是否有关于编写具有辐射耐受性的应用代码的其他 TI 发布指南？

谢谢、
Andy

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    TI__Guru**** 2933740 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Andy：

    我不确定您是否能在 MSP430FR5969 SDK 中找到所需的内容： MSP430FR5969。

    此外、本主题还提供了一些其他材料：

    MSP430FR5969-SP 耐辐射混合信号微控制器 TID 辐射报告

    MSP430FR5969-SP Neutron 位移损伤表征辐射报告

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    TI__Guru**** 2933740 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    我在那个报告中没有看到提到的一件事是 FRAM ECC 系统。 它确实讨论了一些可以修复代码缺陷但没有提供任何细节的代码。 显然发生了记忆混乱。

    我希望、由于每个 FRAM 访问都是通过 ECC 校验读取/写入、因此定期清理每个(或至少每个)使用的 FRAM 位置是一件好事。 读取故障信号往往足以在可纠正的故障进展到不可纠正的状态之前捕获这些故障。

    记录已纠正的故障并拥有报告故障的机制可能是不错的。

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    TI__Guru**** 2933740 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、David：

    感谢您对 FRAM ECC 的善意建议。