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[参考译文] MSP430F5324:您能否查看 MSP430F5324 缺陷报告并回答任何问题?

Guru**** 2578945 points
Other Parts Discussed in Thread: MSP430F5324, MSP-GANG

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/msp-low-power-microcontrollers-group/msp430/f/msp-low-power-microcontroller-forum/1549567/msp430f5324-can-you-review-the-msp430f5324-defect-report-and-answer-any-questions

器件型号:MSP430F5324
主题: MSP-GANG 中讨论的其他器件

工具/软件:

大家好!

您能否查看 MSP430F5324 缺陷报告并回答任何问题?

【缺陷描述】
・微型计算机是 MSP430F5324。
・发生了市场产品索赔。
通过 BSL 通信读取有缺陷的微型计算机中写入的内容,
内存的内容与普通产品的内容不同。
区别是“00 00 包含在某些器件中、值为“关“。

・已知缺陷的原因是,正确的值未写入微型计算机。
・正在检查发生率。

【检查缺陷产品的结果】
・当尝试通过 JTAG 通信验证有缺陷的产品时、由于启用了 JTAG 锁、因此无法进行通信。
・当尝试通过 BSL 通信验证有缺陷的产品时、发生了验证错误。 (书面内容如上述缺陷内容所述。)
Δ・在生产线上、通过 JTAG 通信写入时偶尔会发生写入错误。
然而、再次由 JTAG 写入并且这是正常情况下、它用于产品中。
在大规模生产中、通过 JTAG 通信进行写入、如果验证结果表明这是正常情况、则应用 JTAG 锁定。

【问题】
・这种问题可能不是写的问题吗?
我想区分它是发生在微型计算机写入还是发布到市场后
(1) 产品写入信息存储器 C 和 D 以记忆设置。
操作期间是否可能出现错误、输入 00 00 并移动该值?
(2) 产品中是否可能出现外部噪音、并写入 00 00 且值发生移位?
(3) 是否有可能写入 00 00、并且该值因时间偏移(如微电脑写入过程中的噪音)而发生偏移?

・如果在大规模生产期间通过 JTAG 通信进行写入时验证中输入了“00 00 并且值被部分移动“、
(1) 是否可以通过 JTAG 通信验证来检测这次读取的有缺陷产品内容?
(2) 是否有可能错误地将验证识别为正常? 何时会发生?
从“验证“计算中、是否可以判断此有缺陷产品的书面内容的验证值是否正常?

・如果在大规模生产时由 JTAG 通信写入、那么如果显示验证异常、是否不应用 JTAG 锁定是正确的?
即使显示验证异常、是否也可能应用 JTAG 锁定?

・您是否听说过 MSP-GANG 有这样的问题? (其他公司等)

・使用 MSP-GANG 进行“Verify with JTAG communication“(使用 JTAG 通信进行验证)和“Verify with BSL communication“(使用 BSL 通信进行验证)之间是否有任何区别?
(1) 验证 JTAG 通信是否没有注意到这个问题、但验证 BSL 通信是否会注意到这个问题?
(2) 是否有办法通过 MSP-GANG 的 JTAG 通信执行全面验证?
(3) 我了解 JTAG 通信:PSA 比较、BSL 通信:校验和+PSA 比较。 正确吗?

・我尝试使用 MSP-GANG 的 BSL 通信来释放 JTAG 锁、但无法释放。
我知道可以通过在@17FC 的存储器中写入 FF FF FF FF FF FF FF FF 来释放它、但一旦应用了 JTAG 锁定、
是否可以恢复 JTAG 通信?
关于写入时的存储器选项、“所有存储器(无 BSL 扇区)、包括锁定的 INFO-A“
我按下了 Program 按钮、但当我通过 Read 读取并查看@17FC 时、它没有改变。


【我们的想法】

・我认为在写入微型计算机的过程中,工具或电源是可疑的,但在这种情况下,是否可以通过验证来检测? 我认为是这样。
・这种现象会发生什么?

① 从缺陷的内容“00 00 是错位“,我猜,当写入微型计算机时,值很可能是错位的。
然而、写入 JTAG 通信时、是否不可能通过执行验证来检测异常? 如果是、是否可能出现有缺陷的产品?

② 如果在 JTAG 通信中发生“验证异常“、MSP-GANG 中写入的错误内容可能会保留在微型计算机中并导致错误。
但是、如果发生验证异常、则不应实现 JTAG 锁定。
由于这次实施了 JTAG 锁定、是否不太可能出现“验证异常“、而是被忽略并包含在产品中?
⇒那么、这是否意味着验证正确通过?
在验证是否正常并且应用了 JTAG 锁定后、由于外部因素、像这次一样发生了 00 00 写入?
⇒或者即使验证未正确通过、也可能执行 JTAG 锁定吗?

③ 写入时验证正确通过、但稍后通过 BSL 通信执行验证时、会出现错误。
即使在 JTAG 写入时值错误、验证是否变为正常状态、然后当 JTAG 通信或 BSL 通信再次执行验证时、是否会出现验证错误?

④ 如果 JTAG 锁定可以被释放,这个错误是否可以被 JTAG 通信中的 Verify 检测?
在 JTAG 写入期间、这个问题是否会由于电源的影响或写入器的噪声而发生?
即使写入了不正确的值、验证错误是否不会发生并且应用了 JTAG 锁定?

此致、

ITO

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Ito:

    很抱歉晚回复。 我已将该问题转发给团队中的专家、将很快在这里获得反馈和评论。

    感谢您的耐心。

    B.R.

    Sal

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    尊敬的 Sal:

    您是否已收到专家的回复?

    我的 客户问它。

    此致、

    ITO

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    尊敬的 Sal:

    您是否已收到专家的回复?

    我的客户问它。

    此致、

    ITO

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    尊敬的 Ito:

    很抱歉晚回复。 我没有收到专家的反馈。

    因此、我进入主题进行响应。 请参阅以下注释:

    [报价 userid=“584182" url="“ url="~“~/support/microcontrollers/msp-low-power-microcontrollers-group/msp430/f/msp-low-power-microcontroller-forum/1549567/msp430f5324-can-you-review-the-msp430f5324-defect-report-and-answer-any-questions ](1) 产品写入信息存储器 C 和 D 以存储设置。
    操作期间是否可能发生错误、输入 00 00 并移动值?

    我不太困惑、为什么会有存储器 C 和 D 的写入行为。在我查看数据表说明时、只有存储器 A 和 B 用于 MSP430F5324:

    (2) 产品中是否可能出现外部噪音、并写入 00 00 并移动值?
    (3) 是否有可能写入 00 00、并且该值因时间偏移(如微型计算机写入期间的噪音)而发生偏移?

    我认为在成功写入后、除非应用程序代码中有任何写入行为、否则该值将是恒定的。

    在写入过程中、值可能会受到外部噪声的影响。

    [引述 userid=“584182" url="“ url="~“~/support/microcontrollers/msp-low-power-microcontrollers-group/msp430/f/msp-low-power-microcontroller-forum/1549567/msp430f5324-can-you-review-the-msp430f5324-defect-report-and-answer-any-questions

    (1) 是否可以通过 JTAG 通信验证来检测这次读取的有缺陷产品内容?
    (2) 是否有可能错误地将验证识别为正常? 何时会发生?
    从“验证“计算中、是否可以判断此有缺陷产品的书面内容的验证值是否正常?

    ・如果在大规模生产时由 JTAG 通信写入、那么如果显示验证异常、是否不应用 JTAG 锁定是正确的?
    即使显示验证异常、是否也可能应用 JTAG 锁定?

    [/报价]

    我不认为是这样、如果该值读取为“00",“,这、这不是预期值、则验证应该返回错误。  

    让我们与团队专家讨论一下 Gang。

    [报价 userid=“584182" url="“ url="~“~/support/microcontrollers/msp-low-power-microcontrollers-group/msp430/f/msp-low-power-microcontroller-forum/1549567/msp430f5324-can-you-review-the-msp430f5324-defect-report-and-answer-any-questions ](3) 我了解 JTAG 通信:PSA 比较、BSL 通信:校验和+PSA 比较。 正确吗?

    JTAG 验证可与 PSA 一起使用、虽然我不确定 BSL 验证、可能只是一些 CRC 校验。 需要与耙串专家进行仔细检查。

    让我检查一下是否有任何验证可能性不会注意到固件错误。

    是否可以恢复 JTAG 通信?

    我假设您正在讨论:

    您可以找到解锁方法: https://www.ti.com/lit/ug/slau320aj/slau320aj.pdf 

    它需要执行额外的操作来解锁它。

    B.R.

    Sal

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    尊敬的 Sal:

    感谢您的帮助、

    您能否将以下报告发送给帮派团队?


    【请求】
    ・已知缺陷的原因是未将正确的值写入 MSP430F5324。
    请提供原因调查和对策。

    【问题】
    通过 BSL 通信读取写入有缺陷 MCU 的内容时、发现“00 00“、并且值部分关闭。

    【客户验证结果】
    ・通过 BSL 通信从有缺陷的单元读取数据显示值不一致。
    ・由于安全设备处于活动状态、在有缺陷的设备上尝试通过 SWB(快速)进行验证失败。
    (在大规模生产期间,在启用安全器件的情况下,通过 SWB(快速)通信执行写入。)
    ・在有缺陷的设备上执行“通过 BSL 验证“通信时、发生了“验证“错误(错误详细信息根据上述缺陷描述)。
    ・根据生产线、SWB(快速)通信写入期间偶尔会发生写入错误。
    但是、通过后续 SWB(快速)通信写入的单元正在生产中使用。


    【问题】
    1.是否有可能在编写过程之外出现这样的缺陷? (我们想确定它是在微控制器写入期间还是在产品进入市场后发生)。
    噪声是否会导致在写入过程之外写入 00 00 并使值移位?
    ① 外部噪声是否可能进入产品、从而导致写入 00 00 并移动该值?
    ② 微控制器编程期间的噪声等时序问题是否会导致写入 00 00、从而导致值移位?

    2.当使用 MSP-GANG 编程期间发生 Verify 错误时、写入微控制器的值是否会保持不变?

    3.请说明在使用 MSP-GANG 进行验证时、在每个通信步骤中执行哪种类型的验证。
    写入故障装置的值是否会在此时通过验证发送?
    此外、由于验证过程中的噪音、即使内容不正确、验证是否也有可能通过?
    我们相信 Verify 不会通过向有缺陷的设备写入的值。
    JTAG:PSA 比较
    SWB(快速):?
    BSL:校验和+ PSA 比较?

    4.在 SWB(快速)中启用安全器件的情况下进行写入时、
    “Software Write“完成后、是否要验证运行? 如果成功、安全器件是否锁定以阻止 SWB(快速)通信?
    即使验证失败、也会安全锁定器件吗?

    在我看来、如果安全设备即使验证失败也没有锁定、则不会出现此问题。
    我认为尽管验证失败、安全设备仍被锁定。
    即使在生产线上错过了错误、我相信如果验证失败、安全器件也不会锁定。


    5.除 Verilay 以外,是否有其他方法可以在写入过程中检测此类有缺陷的产品(其中写入了 00 00 ,导致部分值移位)?
    ・写入操作后是否可以执行“Compare Code File and Flash ROM“?
    ・如果缺陷频率降低、我认为“在写入操作后再次执行验证“可能是可行的。


    6.当噪音或定时错误导致微控制器编程期间写入 00 00 时,
    请提供使用 MSP-GANG 的 SWB(快速)进行编程的预防措施。

    示例:
    ・将从 MSP-GANG 连接器到微控制器编程引脚的电缆长度保持在 X cm 以下。
    ・提高电缆和 MSP-GANG 自身抗噪性的方法(例如,降低 SWB 速度,屏蔽铜箔段)。

    此致、

    ITO

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    尊敬的 Ito:

    您能帮助分享有关存储数据问题的更多详细信息吗?

    在通过 BSL 通信读取写入有缺陷 MCU 的内容时、发现“00 00“、并且值部分关闭。

    此问题的内存地址范围是多少?

    预期值是多少? 所有故障设备是否具有相同的故障地址、或者它们是随机的? 什么是故障率?

    同时、该应用是否会手动使用闪存控制器对特定地址进行编程?

    而且,我是否可以知道您如何锁定器件 — 您应该将一些数据加载到 0x17FC 中以将其锁定、对吧?  

    B.R.

    Sal

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    此外、请在此处更新一些有关作为您的问题帖子的注释。

    [quote userid=“584182" url="“ url="~“~/support/microcontrollers/msp-low-power-microcontrollers-group/msp430/f/msp-low-power-microcontroller-forum/1549567/msp430f5324-can-you-review-the-msp430f5324-defect-report-and-answer-any-questions/5997052 在编写过程之外是否可能出现这样的缺陷? (我们想确定它是在微控制器写入过程中还是在产品进入市场后发生)。

    是的、在编程之外、如果 MCU 发生过压或过流(更常见的是电压)等超规格、则可能会使闪存 数据被篡改

    [quote userid=“584182" url="“ url="~“~/support/microcontrollers/msp-low-power-microcontrollers-group/msp430/f/msp-low-power-microcontroller-forum/1549567/msp430f5324-can-you-review-the-msp430f5324-defect-report-and-answer-any-questions/5997052 当使用 MSP-GANG 编程期间发生 Verify 错误时、写入微控制器的值是否会保持不变?

    是、验证应仅执行读取和检查。 不会影响固件本身。

    [quote userid=“584182" url="“ url="~“~/support/microcontrollers/msp-low-power-microcontrollers-group/msp430/f/msp-low-power-microcontroller-forum/1549567/msp430f5324-can-you-review-the-msp430f5324-defect-report-and-answer-any-questions/5997052 请说明在使用 MSP-GANG 进行验证时、在每个通信步骤中执行了什么类型的验证。

    MSP GANG 不由 TI 维护。 我可以再次检查、但不确定是否能明确说明。

    虽然、我相信如果代码文件中的数据不正确、验证应该会失败。

    [quote userid=“584182" url="“ url="~“~/support/microcontrollers/msp-low-power-microcontrollers-group/msp430/f/msp-low-power-microcontroller-forum/1549567/msp430f5324-can-you-review-the-msp430f5324-defect-report-and-answer-any-questions/5997052 在 SWB(快速)中启用安全器件的情况下进行写入时、
    “Software Write“完成后、是否要验证运行? 如果成功、安全器件是否锁定以阻止 SWB(快速)通信?
    即使验证失败、安全设备也会锁定吗?

    启用安全设备在这里意味着什么? 以下选项?

    [quote userid=“584182" url="“ url="~“~/support/microcontrollers/msp-low-power-microcontrollers-group/msp430/f/msp-low-power-microcontroller-forum/1549567/msp430f5324-can-you-review-the-msp430f5324-defect-report-and-answer-any-questions/5997052 除 Verilay 之外、是否有其他方法可以在写入过程中检测此类缺陷产品(其中写入了 00 00,导致部分值移位)?

    您在此处发布的方法。

    [quote userid=“584182" url="“ url="~“~/support/microcontrollers/msp-low-power-microcontrollers-group/msp430/f/msp-low-power-microcontroller-forum/1549567/msp430f5324-can-you-review-the-msp430f5324-defect-report-and-answer-any-questions/5997052 当噪声或时序错误导致微控制器编程期间写入 00 00 时、
    请提供使用 MSP-GANG 的 SWB(快速)进行编程的预防措施。

    电缆是最重要的部件,要避免噪音,建议 将随附的电缆与 Gang 产品一起使用。

    只要较长的长度在信号线 (TDI、TCK、TMS、TDO) 之间提供良好的隔离、也应该是良好的。 每条信号线均应由直流线隔开、以尽量减少信号线之间的串扰。

    B.R.

    Sal

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    尊敬的 Sal:

    在回答你的问题之前、请允许我澄清一点。

    是的、在编程范围内、如果 MCU 发生过压或过流(更频繁地发生电压)等超规格、则可能会使闪存 数据被篡改

    我认为这种现象被描述为“一个具体值变为 00“
    “00 正在输入、导致闪存内容发生移位“是不同的。
    以下哪一项是由于过压或过流而发生的?

    此致、

    ITO

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    尊敬的 Ito:

    和“00 正在输入导致闪存内容移位“是不同的。

    这通常是由于固件加载期间的噪声而导致的。

    我认为这种现象被描述为“一个具体的值变为 00“

    这更有可能是由于过度规格。

    顺便说一下、请帮助澄清详细信息、以便我可以尝试针对此故障进行更多分析。 谢谢。

    [引述 userid=“522967" url="“ url="~“~/support/microcontrollers/msp-low-power-microcontrollers-group/msp430/f/msp-low-power-microcontroller-forum/1549567/msp430f5324-can-you-review-the-msp430f5324-defect-report-and-answer-any-questions/5999262

    此问题的内存地址范围是多少?

    预期值是多少? 所有故障设备是否具有相同的故障地址、或者它们是随机的? 什么是故障率?

    同时、该应用是否会手动使用闪存控制器对特定地址进行编程?

    而且,我是否可以知道您如何锁定器件 — 您应该将一些数据加载到 0x17FC 中以将其锁定、对吧?  

    [/报价]

    B.R.

    Sal

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    尊敬的 Sal:

    感谢你的帮助。

    这通常是由于固件加载期间的噪声所致。
    这更可能是由于超出规范。

    “00 正在进入且闪存内容发生移位“是否意味着:
    “使用 MSP-GANG 写入微控制器时、如果发生过压或过流、则会插入随机 00 并使值发生变化“?

    还是意味着:
    “对产品完成写入并将其推向市场后、如果发生过流或过压、则插入 00s 且值发生变化“?

    为什么过压或过流会导致插入 00 并导致错位?
    我想了解这背后的具体原因或原则。

    [引述 userid=“522967" url="“ url="~“~/support/microcontrollers/msp-low-power-microcontrollers-group/msp430/f/msp-low-power-microcontroller-forum/1549567/msp430f5324-can-you-review-the-msp430f5324-defect-report-and-answer-any-questions/6004799

    此问题的内存地址范围是多少?

    预期值是多少? 所有故障设备是否具有相同的故障地址、或者它们是随机的? 什么是故障率?

    同时、该应用是否会手动使用闪存控制器对特定地址进行编程?

    而且,我是否可以知道您如何锁定器件 — 您应该将一些数据加载到 0x17FC 中以将其锁定、对吧?  

    [/报价]

    ・我同时附加了“遇到此问题的数据“和“正常数据“。
    ・这些值将是随机的。
    ・故障率为 5000 个器件中的 2 个。
    ・通过 MSP-GANG 写入的地址为全存储器(无 BSL 扇区)。
    ・不清楚数据是否正在加载到 0x17FC 中。
    我已将解锁过程中尝试的设置包括在文档中。
    (根据内容,我们相信写作发生在 0x17FC。)
    文档将通过私人消息发送。
    尽管文档中并未提及、但我们已启用“Secure Device Options“中的“Secure Device“选项来应用锁定。
    尝试使用文档中描述的方法解锁不成功。

    ・关于安全器件、检查文档后发现正在进行写入、而安全/保护处于无法按下的状态(锁定状态)。

    此致、

    ITO

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    尊敬的 Sal:

    在释放 JTAG 锁时、我还有一个问题。


    对于 MSP432F5324、我使用 MSP-GANG GUI 配置了 BSL 通信设置。
    在“Memory Options“⇒“Memory Erase/Program…下、将其设置为
    所有存储器(无 BSL 扇区)+包括锁定的 INFO-A、
    然后按下 ERASE 按钮、然后执行读取操作。

    我预计“BSL 区域将保留、与 JTAG 锁定相关的 0x17FC 至 0x17FF 将更改为 FF、
    所有其他区域都将被擦除为 FF。“

    但是、读取结果表明了这一点
    BSL 区域保持不变、包括与 JTAG 锁定相关的扇区 0x17FC 至 0x17FF、
    而存储器的其余部分擦除为 FF。
    因此、无法释放 JTAG 锁定。

    以下哪些原因可能是其原因?
    -设置不正确,
    - MSP-GANG 故障、

    - MSP430F5324 发生故障?

    此致、

    ITO

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    尊敬的 Sal:

    您愿意分享您的意见吗?

    此致、

    ITO

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Sal:

    您愿意分享您的意见吗?

    此致、

    ITO

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Sal:

    我的客户正在紧急等待回复。
    请提供您的意见。

    此致、

    ITO

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Ito:

     这几天我是 OOO。

    我将在今天晚些时候更新一些反馈。

    B.R.

    Sal

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    尊敬的 Ito:

    "使用“使用 MSP-GANG 写入微控制器时、如果发生过压或过流、则会插入随机 00 并使值发生偏移“?

    这还没有最终确定,我们不能保证当噪声或超出规格或不稳定的连接出现在程序员.

    或者它是否意味着:
    “对产品完成写入并将其推向市场后、如果发生过流或过压、则插入 00 秒且值发生变化“?

    可以插入 00、但以下值都很难发生移位。

    我检查了您共享的 txt 文件,我发现有部分闪存数据移动,然后它恢复:只有行 982 — 行 985 有错误的闪存数据。

    这些特定范围的代码的函数是什么?

    顺便说一下、 客户在将功能发布到市场之前没有验证该功能?

    以下哪一个原因可能是造成这种情况的原因?
    -设置不正确,
    - MSP-GANG 故障、

    我不熟悉这种方法、并且在接下来的几天 里、我没有带宽来进行一些测试。

    您是否使用 EVM 板或测试板进行过尝试? 我可以在 10 月初运行它。

    B.R.

    Sal

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    尊敬的 Sal:

    感谢你的帮助。

    这些特定范围的代码的函数是什么?

    这是由客户开发的用于设置应用值的函数。

    顺便说一下、 客户在将功能发布到市场之前没有验证该功能?

    客户已验证并发运产品、没有出现任何问题。

    假设在写入过程中出现这个问题、我想研究过压和过流问题。
    ・了解微型计算机的电源电压是否过电压、我是否正确?
    ・假设 DVCC1 和 DVCC2 的电压为 MAX4.1V 或更低(当 VSS 为 GND 时)是否正确?

    是否有推荐的过流分析方法?

    ・为了确定 MSP-GANG 是否正确写入了、
    是否有任何应使用示波器检查的信号线路或电源电压?

    ・如果自产品投放市场以来发生过流或过压、
    可能的情况是什么?

    微型计算机的电源为“直流/直流转换器提供的 24VDC⇒5.8V、LDO⇒MCU 提供的⇒3.3V “、因此我们认为 LDO 不太可能导致过压。

    此致、

    ITO

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Sal:

    目前、客户正在执行 SBW 编程和比较匹配验证。
    此外、作为编程期间噪声调查的一部分、他们正在考虑检查 VDD、TDIO、TCK 和 GND。
    我们尚未收到关于以下问题的答复、请您提出意见:
    使用 MSP-GANG 和 MSP430F5324 通过 SBW 对安全器件进行编程时(快速)、
    如果编程过程中出现验证错误、安全器件是否会被锁定?

    我们将 MSP-GANG 的 GUI 配置为对 MSP430F5324 使用 BSL 通信。
    在“Memory Options⇒Memory Erase/Program…“下、我们选择了该选项
    “所有存储器(无 BSL 扇区)+包括锁定的信息“A",“,</s>、
    然后点击 ERASE 按钮、然后执行读取操作。

    我们的期望是:
    “ BSL 区域将保持不变、JTAG 锁定相关区域 (0x17FC–0x17FF) 将设置为 FF、
    所有其他区域都将擦除为 FF。“
    然而、实际读取结果表明:
    BSL 区域、包括 JTAG 锁定相关区域 (0x17FC–0x17FF) 保持不变、
    而所有其他区域均擦除至 FF。
    结果、我们无法解锁 JTAG。

    您认为原因是什么:
    程序有问题、
    MSP-GANG 发生故障、
    MSP430F5324 本身有什么问题?

    此致、

    ITO

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Ito:

    很抱歉晚回复。  假期回来了  

    [引述 userid=“584182" url="“ url="~“~/support/microcontrollers/msp-low-power-microcontrollers-group/msp430/f/msp-low-power-microcontroller-forum/1549567/msp430f5324-can-you-review-the-msp430f5324-defect-report-and-answer-any-questions/6045242

    客户已验证并发运产品、没有出现任何问题。

    假设在写入过程中出现这个问题、我想研究过压和过流问题。
    ・了解微型计算机的电源电压是否过电压、我是否正确?
    ・假设 DVCC1 和 DVCC2 的电压为 MAX4.1V 或更低(当 VSS 为 GND 时)是否正确?

    [/报价]

    如果它在产品上市前验证了产品功能、我可以怀疑工作环境使闪存数据被篡改。

    尽管移动闪存数据很奇怪、但在我看来、更有可能出现闪存写入问题。 [如果产品已完成 OTA]

    是否有过电流的推荐分析方法?

    遗憾的是、这取决于实际产品环境。

    [报价 userid=“584182" url="“ url="~“~/support/microcontrollers/msp-low-power-microcontrollers-group/msp430/f/msp-low-power-microcontroller-forum/1549567/msp430f5324-can-you-review-the-msp430f5324-defect-report-and-answer-any-questions/6045242・如果自产品上市以来出现过流或过压、
    可能的情况是什么?

    从我这边看、MCU 电源由于输入电源 浪涌而过压。 由于意外电路缩短、IO 输入电流更大。

    使用 MSP-GANG 和 MSP430F5324 通过 SBW 对安全器件进行编程(快速)时、
    如果编程过程中出现验证错误、安全器件是否会被锁定?

    不幸的是,我们没有这样的答案,因为这个程序员是由 Elprotronic 维护。

    我建议用户在他们的身边进行测试、以使其清晰。

    B.R.

    Sal

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Ito:

    我们将 MSP-GANG 配置为对 MSP430F5324 使用 BSL 通信。
    在“Memory Options⇒Memory Erase/Program…“下、我们选择了该选项
    “所有存储器(无 BSL 扇区)+包括锁定的信息“A",“,</s>、
    然后点击 ERASE 按钮、然后执行读取操作。

    我们的期望是:
    “ BSL 区域将保持不变、JTAG 锁定相关区域 (0x17FC–0x17FF) 将设置为 FF、
    所有其他区域都将擦除为 FF。“
    然而、实际读取结果表明:
    BSL 区域、包括 JTAG 锁定相关区域 (0x17FC–0x17FF) 保持不变、
    而所有其他区域均擦除至 FF。
    因此、我们无法解锁 JTAG。

    至于这个问题、我下周再重复一遍。

    B.R.

    Sal