器件型号: MSP430FR5887
ESI 模块应在–20 摄氏度的环境中运行、但测试失败、计数停止。 我们如何改进这一点?
此外、如果使用 AFE2 执行校准、则在金属指针保持静止时无法执行校准、对吧? 然后、只有当温差为 30 摄氏度时、指针才会开始移动。 Delta =(ESIDAC1R0 + ESIDAC1R1)/ 2 - New_Level;Delta < 10 是否会导致重新校准失败?
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器件型号: MSP430FR5887
ESI 模块应在–20 摄氏度的环境中运行、但测试失败、计数停止。 我们如何改进这一点?
此外、如果使用 AFE2 执行校准、则在金属指针保持静止时无法执行校准、对吧? 然后、只有当温差为 30 摄氏度时、指针才会开始移动。 Delta =(ESIDAC1R0 + ESIDAC1R1)/ 2 - New_Level;Delta < 10 是否会导致重新校准失败?
您好、
您能否首先使用以下指令在调试模式下检查 MCU 会发生什么情况? 然后我们就会知道它为什么会停止。
e2e.ti.com/.../2766.Connect-MCU-in-free-run-mode.docx
Eason
您好、
请参阅此 e2e: https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/msp-low-power-microcontrollers-group/msp430/f/msp-low-power-microcontroller-forum/783318/msp430fr5989-esi---ms430fr5989、 似乎 ESI 不应影响低温下的性能、任何客户都不会遇到与您相同的问题。您是否还可以测量单身问题。
请参阅本勘误表 (https://www.ti.com/lit/er/slaz624aa/slaz624aa.pdf) 中的 PMM24。 我建议您首先删除 LPM 模式的使用并再次进行仔细检查。
目前、我们的 ESI 专家离开 TI。 对于该应用、我们现在只提供有限的支持。
Eason