Other Parts Discussed in Thread: MSPM0G3507
请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
器件型号： MSPM0G3507-Q1
Thread 中讨论的其他器件： MSPM0G3507
我使用 MSPM0G3507 比较器触发单次 ADC 转换。 系统详细信息：
COMP 迟滞设置：~10mV
触发速率估计：>100kHz
ADC 模式：单次、比较器应由上升沿触发
CPU 时钟：80MHz
观察到的行为：
当比较器 DAC 阈值~9mV 且触发速率变为高电平时、比较器输出似乎持续保持高电平、并且边沿触发的中断发生停止。 因此、尽管模拟信号仍然存在、但 ADC 采集将停止触发。
问题：
如何使比较器（或中断）为下一个事件做好准备、即使在高计数速率下也是如此？
MSPM0 比较器边沿中断逻辑是否需要完全从高电平到低电平的转换来重新启动、并且是否有任何内部滤波/锁存可以以高速率抑制边沿？
处理高速触发的推荐架构是什么？ 可能是死区时间门控？
相关主题（可能是 COMP 和 ADC 之间的相关交互）、但 TI 未指定：
https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1548601/mspm0g3507-q1-adc-reading-varies-with-dac-value-in-comparator-triggered-setup/5959536
请提供任何指导。
此致、
Daniel
