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器件型号： MSP430FR2433
TI 团队大家好、
在设计专用电极 PCB 之前、我们正在进行一个简单的互电容实验（丙烯酸板上的铜箔电极，夹在软管之间）来评估检测灵敏度。 在辐射噪声注入测试期间、我们观察到测量“计数“中出现了意外行为：
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采样：默认值~33ms
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错误阈值：默认值 8191
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观察结果：在噪声注入过程中、计数显著增加、然后突然降至更小的值并保持低电平（请参阅随附的图）。
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我们怀疑这可能与转换错误/错误阈值事件相关、可能与重新校准有关、但记录的计数在下降之前似乎未达到 8191。
您能否澄清以下几点？
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即使记录的计数从未达到 8191、是否会发生转换错误（错误阈值）？
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是否在内部“原始“转换值（每个元件/每个频率）上检查误差阈值、该值与我们记录/绘制的值不同？
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由于硬件在超过阈值时停止转换、是否预计输出计数可能不会显示 8191？
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我们如何确认运行时是否发生错误阈值/转换错误？
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我们应该监控哪些标志（例如，，等）
tSensor.bMaxCountErrorbCalibrationError？ -
是否有建议的方法可以在 CCS 或通过 CapTIvate 设计中心记录/观察此情况？
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发生转换错误时的默认行为是什么？
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CapTIvate 库是自动触发重新校准、还是只设置错误标志并将操作留给应用？
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如果重新校准是可选的、是否有推荐的产品使用处理策略（例如，忽略样本，冻结 LTA、重试转换、仅在 N 个连续错误后重新校准）？
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当由于外部 EMI 而导致较大的计数值时、是否有任何可配置的选项来更改这种错误情况的处理（而不是重新校准）？
我们的担心是、如果外部噪声导致较大的计数偏移并触发重新校准、则传感器在正常情况下可能无法检测目标事件。
此致、
Conor
