Other Parts Discussed in Thread: MSP430FR2633
部件号： CAPTIVATE-PHONE
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您好、
我还有一个问题关于使用 MSP430FR2633 在互电容应用中重新校准的基本设计原理。
我们正在评估互电容触控 UI、客户担心的一个问题是、当信号因强辐射噪声或液体附件等异常条件达到上限或最大数区域时、应如何重新校准。
客户之前使用自电容 IC 进行触摸 UI 设计。
在该设计中、仅当电极输出保持低电平一段时间后才会执行重新校准。
当信号在上侧饱和时、它们故意不允许重新校准、因为如果在异常情况下发生重新校准、基线可能会发生偏移、之后 UI 可能难以操作。
在查看最新的 CapTIvate 设计指南之后、我们目前的理解是：
1.运行时重新校准主要用于从缓慢的基线漂移中恢复。
2.误差阈值用于确定异常转换结果。
3、对于互电容传感器、应首先通过诸如抗噪模式、更强的去抖/计数滤波、禁用调制以及硬件措施（如 Rx 电容器接地和仔细的 Rx 布线）等设置来改善抗噪性能。
基于此、我想问：
1.在互电容应用中、通常建议将最大计数或上侧饱和情况下的重新校准作为正常的设计策略？
2.还是更适合将基于最大计数的重新校准仅作为异常情况下的备用操作,同时保持正常运行时重新校准主要用于缓慢漂移校正?
3.在辐射噪声、液体附着力或其他异常情况可能暂时将信号驱动至上限的系统中,禁用或限制与最大计数相关的重新校准是否合理,而是首先依靠误差阈值上限和设计指南中建议的抗噪措施?
4.如果禁用或限制与最大计数相关的重新校准是合理的方法、是否有建议的方法在 CapTIvate 框架中这样做、同时仍保持正常的漂移校正行为？
感谢您针对这一点在互电容应用中提供的建议设计策略。
此致、
Conor
