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[参考译文] MSP430F5419A:有关辐射抗扰度和 IEC 61000‑4‑3 测试的文档

Guru**** 2874030 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/msp-low-power-microcontrollers-group/msp430/f/msp-low-power-microcontroller-forum/1639554/msp430f5419a-documentation-on-radiated-immunity-and-iec-61000-4-3-testing

器件型号: MSP430F5419A

您好:
 
我想要查找有关 TI MCU 辐射抗扰度的一般信息、
特别是 TI 是否有任何与辐射相关的文档
抗辐射射频场的抗扰度测试或系统级保护。

 

具体而言、我对以下内容感兴趣:
- TI 是否有任何关于辐射抗扰度的文档
 (例如,IEC 61000-4-3)
-与测试相关的应用报告、参考设计或指南
 或保护系统免受辐射射频场的影响
-专门适用于 MSP430 器件的任何指南

 

到目前为止、我找到了通用 EMC 设计和系统级指导、但我得到了
无法找到任何器件级辐射抗扰度规格或
文档直接介绍了适用于 MSP430 MCU 的 IEC 61000-4-3。

 

如果有此类文件、我将不胜感激地指出右边的内容
方向。  
如果没有、确认现有指导意见的范围也将是有益的。

 

提前感谢您。
此致、
Michael
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    您好、Michael、除了您提到的文档外、我们目前没有发布任何其他内容。 现在的工作中有一篇更详细的 EMC 电路板优化文章、但我们通常会根据具体情况进行 EMC 测试、因为器件/封装太多。 对于 MSP430、我相信除了各自数据表中提到的内容外、我们还提供了任何 EMC 测试文档。

    -布赖恩

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    辐射抗扰度主要受 MSP430 之外的因素影响。 例如那些将其连接到其他东西的天线/导线。