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[参考译文] MSP430F6638:ADC

Guru**** 2382240 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/msp-low-power-microcontrollers-group/msp430/f/msp-low-power-microcontroller-forum/1066926/msp430f6638-adc

部件号:MSP430F6638

我在运算放大器缓冲器上应用了1伏直流电平。 然后,输出通过1kohm/1kohm 分压器馈送,然后馈送至 MSP430F3368的 ADC0输入。 我获得的读数不是读数0.5V,而是相当于0.7V。 当我查看示波器上的输入时,我可以看到输入稳定在0.5V,但当获得 ADC 读数时,电平将上升到0.7V,使输入显示为200mV 方波,偏移为500mV。 频率和周期与 ADC 上设置的采样和保持时间以及采样频率相对应并随其变化,因此与 ADC 信道的多路复用明显相关。

这似乎太高,不是任何泄漏电流造成的。 您能否解释这种情况的来源以及如何消除这种情况?

我还注意到,当主板以调试模式运行时,从 CCS 工作室连接电缆时,输入保持在500mV,方波不存在,ADC 读数也是预期的。

第一幅图像显示了问题的结果,第二幅图像显示了主板通过 JTAG 连接到 CCS 工作室的情况。 注意:自拍摄图像以来,ADC12clk 已增加到2MHz,没有变化。 这看起来 ADC 输入正在充当恒定电流源! 这怎么会发生?

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    大卫,你好。

    您能否在调试器已物理连接但未接合的情况下再次尝试测量? aka 未通过 CCS 进行调试(或处于自由运行模式)。  

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    如果停止调试器(红色方形), ADC 将继续按预期运行,而不会出现侧波。 在连接调试器或未连接调试器的情况下,当电源循环时,方波返回

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    好的,所以当连接调试器时会发生两件事。 当内部调试器(EEM)处于啮合状态(CCS 中的调试模式)时,设备中的所有内容都会由于调试过程的干扰而减速。 另一件事纯粹与硬件相关,因为您可以获得不同系统接地(目标与调试器+ PC)的耦合。  这种额外的耦合可以改善读数(更好的接地),或者可能相反,从而给目标系统带来噪音。 那么,您的系统中的地面情况如何? (假设这是自定义板)。  

    另一件要检查的事情是,您是否有任何数字信号在 ADC 输入附近切换,这些数字信号与您的信号耦合。 这通常是在高频信号下发生的,因此我怀疑这是一个问题。 特别是因为它符合您的 ADC 设置,而没有其他内容。

    最后一个问题是 ADC 寄存器结果是否反映了这一变化,或者它们是否显示了预期值/代码? SAR ADC 会影响您在采集电流以填充采样盖时正在采样的信号,这也是为什么经常使用缓冲 OA (如您所拥有的那样)的原因。

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    这是我们自己的产品。 我们在 CPU 板上安装了 MSP430,并使用不同的继电器板来进行各种仪器仪表。  我有一个运行正常的旧版本代码。 软件中的所有 ADC12寄存器都相同。

     看起来 ADC12是一个恒定电流源,当选择输入时,电流从针脚流出,并在输入上显示在电阻器网络上,尽管我无法理解这是如何实现的。 它不能是样品上的电荷并保持,因为 它在多路复用过程中不会衰减!

    我们在没有电阻器的情况下进行了一些测试(因此输入由运算放大器驱动),它解决了问题,但我们需要分压器,因为运算放大器的输出可以是5V。 此外,我还可以使用相同硬件的旧代码。

    附近没有高频信号。

    当出现方波时,ADC 读数会高出150mV,因此 ADC 正在读取方波的顶部。

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    ADC 的第二个通道未用于本产品,但我正在对端口进行采样以匹配工作代码。 此针脚 A0有效浮动,但如果受到监控,我会获得2.5V 方波,与连接到样品和保压电路的时间相匹配。  

    同样,其他软件也不会出现这种情况,在其他主板上也可以重复使用。

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    大卫,

    有了这些信息,我相信您的 ADC 电路的输入阻抗存在问题。 您还可以尝试跳过运算放大器并使用分压器吗?

     您为 ADC 设定的采样时间是多少? 根据  《用户指南》第28.2.5.3节中给出的公式,填充设备参数和大约1k 欧姆的输入阻抗,该公式应大于1.46us。