“线程:UNIFLASH, 测试”中讨论的其它部件
您好,
我已经按照“laa450g”中的说明构建了自定义 BSL,并尝试使用 IAR 调试器使用 FET430UIF 将其加载到 BSL Flash 区域。
下载代码时的 BSL 保护已关闭。 这失败了,我检查了有关该问题的线程 https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/msp-low-power-microcontrollers-group/msp430/f/msp-low-power-microcontroller-forum/1048151/msp430f5438a-ep-command-line-interface-for-programming-msp430-flash-memory/3880772#3880772 。
我可以确认,即使使用 Uniflash,也无法下载 BSL 代码。
但是,可以使用 Uniflash 将 BSL 与我的应用程序一起刷新(如线程中所述)。
对这一限制的原因是否有新的见解?
我的第二个问题是关于调试,这似乎是完全不可能的。
重新启动 IAR 并选择“调试”而不下载,使我可以查看已编程的 BSL 部分,但只能部分查看。
0x1000到106D 之间的内存区域仅在拆卸视图中返回“---”。
断点可以在拆分视图(而不是 C 代码视图)中设置为 BSL 的各个段。 但是,这些都不会导致调试器停止运行。
调试 BSL 截面是否有通用块?
此致,
马丁·宾德里奇