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[参考译文] MSP432P401R:MSP432P401R上的过采样

Guru**** 1821780 points
Other Parts Discussed in Thread: REF2030, OPA365, DAC8560EVM
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/msp-low-power-microcontrollers-group/msp430/f/msp-low-power-microcontroller-forum/654884/msp432p401r-oversampling-on-msp432p401r

部件号:MSP432P401R
主题中讨论的其他部件: REF2030OPA365DAC8560EVM

您好!

我想在 MSP432P401R上获得14位分辨率(必须测量200mV变化)。 我需要2个通道,采样速度至少为100ksps,14位。

是否可以使用此控制器执行此操作?   有一 个www.ti.com/.../slaa694a.pdf的例子,但  我无法在MSP432P401R Launchpad板上获得14位分辨率。 样本之间的差异可能约为6。

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    您好Artem:

    是的,使用MSP432P401R器件可以有2个通道,每个通道采样速率为100 kSPS。 让我看看示例代码和更新。
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    我有MSP32P401底板, 运算放大器OPA365,参考电压REF2030和带分压器的电池(见图)。 在这种情况下,我是否可以测试过采样? 我尝试使用 http://www.ti.com/lit/an/slaa694a/slaa694a.pdf中的代码 ,但没有 DAC8560EVM进行测试。  测量0.2mV变化非常重要(我之前犯了一个错误)。

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    您好Artem:

    我建议使用ADC采样SDK中的示例来查看您是否获得了分辨率。 我们可以从这一点开始调查。
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    我无法在我的条件下获得14位分辨率。 您是否可以在实验室中使用4倍过采样来测试ADC精度? 例如,有必要向客户证明,如果输入电压低于1mV (例如2004.006008亿uV),并且在动态范围的中间(例如,从1.2V开始的200uV变化),ADC可以感觉到200uV的变化。 OSR的最大值为4倍。 我想如果你有必要的设备,可以很快地调查。
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    您好Artem:

    您能否附上用于配置ADC的CCS项目或代码?

    您能否提供ADC输入级的示意图,例如运算放大器,滤波器等?
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    正如我所说,我使用的代码与本文档 www.ti.com/.../slaa694a.pdf ( 链接 http://www.ti.com/lit/zip/slaa694)中的代码略有不同 
    我认为不值得提供原理图,因为芯片之间通过电线的连接不正确(至少需要使用精密电压源或精密DAC评估板)。 我刚刚尝试了它如何与我找到的组件配合使用。  

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    您好Artem:

    我不确定您的上一个帖子,但这是否意味着问题已在您的一方得到解决?
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    不,我只是想说,如果您可以检查您实验室设备的精度是否达到200uv,这将是非常好的。  对于其中一位客户来说,使用具有200uV精密ADC的微控制器非常重要,它具有2个通道,每个通道至少100ksps。

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    您能否根据  http://www.ti.com/lit/zip/slaa694 示例进行小调查? 如果没有,请告诉我。  

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    您好Artem:

    我可以看到它在接地和3.3V连接到模拟引脚时工作正常。 我将使用单独的源检查它是否读取了例如1.200V,1.202V和1.198V的值,以确保我们具有200 UV分辨率。
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    您好Artem。

    您正在使用外部参考电压源。 参考源的值是多少?
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    您好!
    参考电压为3V。
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    谢谢!
    但是,您是否也可以为例如2004.006008亿uV检查此项? 在范围的中间,必须检查1.200V,1.2002V和1.1998V,以确保您具有200 UV分辨率(不是1.200V,1.202V和1.198V,因为它的精度为2mV)。
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    您好Aretm:

    你最初的帖子提到了200mV的分辨率,但后来它显示为200 UV。 所以我认为它是200 uv。

    现在对于1MSPS,您可以获得具有较低ENOB的14位ADC。 因此,假设一个理想的环境,分辨率为3V/(2^14)= 183.1 UV

    现在,我们可以在每一个超采样系数为4的情况下添加1位。 因此,您可以获得250 KSPS的91.55 UV和62.5 KSPS的45.775 UV。

    但要实现这些值,您的设置需要具有出色的参考源和抗噪性。 自由导线不会切割。 此外,ENOB将小于实际值,因此每步获得200 UV分辨率可能有点遥不可及。
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    您是否记录了任何调查?
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    您好Artem:

    我在上一个职位上的上述观察是根据将要进行的试验得出的。 实验尚未开始。
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    您好!
    你是否计划在本周进行任何调查?
    谢谢!
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    您好Artem:

    我与我的另一位同事进行了检查。 单端模拟信号在100 KSPS和3V参考电压下采样,无法达到200 UV分辨率。 每位分辨率在单端模式下为2^11.5 ,1MSPS。 对于3V参考电压,它相当于1.0358 mV /位,超出了要求。 通过在4X处进行超额采样,采样率将为250 KSPS,每位分辨率将提高到517.9 UV。 任何进一步的过采样都将根据您的应用要求将采样率降低到100 KSPS以下。

    但是,如果您正在进行差分信号转换,则仍有可能达到该分辨率。
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    您好! 谢谢!

    但在差动输入的情况下,我只能使用13位来测量单极电压?

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    您好Artem:

    但是,如果使用过采样,如果可以进行16倍过采样,则可以将精度提高到15位的ENOB。 顺便说一句,如果测量蓄电池电压,为什么需要100 KSPS?
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    它不是测量蓄电池电压。 我只是想为客户估算ADC精度。 但我没有适合这项实验的设备。 我尝试使用电池作为电压源。
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    您好Artem:

    从理论上讲,ADC分辨率被定义为Vref/2^(ENOB)。 通过4倍的超额采样,您可以添加1 ENOB。 因此,如果用于单端采样模式的1MSPS ENOB是11.2 位,则在250 KSPS (超过采样4倍)时,它将是12.2 位。