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[参考译文] MSP430F133:在现场部署后、器件似乎没有很好的理由发出批量擦除操作

Guru**** 2382240 points
Other Parts Discussed in Thread: MSP430F133
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/msp-low-power-microcontrollers-group/msp430/f/msp-low-power-microcontroller-forum/1111032/msp430f133-part-appears-to-be-issuing-a-mass-erase-operation-for-no-good-reason-after-deployment-in-field

器件型号:MSP430F133

我们在机器的控制手柄中使用 MSP430F133器件。  几年前、我们有几次处理无法正常工作。  在分析后、我发现其中的 MSP430F133控制器是完全空白的、就好像已经执行了整体擦除操作一样。  当时 、在 TI 的帮助下研究了问题并推测噪声可能进入 JTAG 连接、并使用错误的代码保护密码发起操作。  这会导致 BSL 执行批量擦除。   所以、我在 TCK 引脚上安装了 RC 滤波器、问题就解决了。  较新的数据表也建议在 TDI 引脚上使用类似的滤波器、但我尚未实现。

现在、我们出现了新的一连串故障、芯片完全空白。  我认为这可能是由于 Vcc 不稳定、因为我们在这些机器中进行了测试设置、这可能会导致该芯片必须承受的严重 VCC 振荡。  但是、值得注意的是、我们的固件中没有进行闪存写入、而我在这些论坛中收集的是、由于 Vcc 不稳定、闪存擦除或损坏是不可能的。  但绝大多数这类装置在一夜之间就失效了。

在我对'F133数据表的阅读中、该器件既没有欠压保护功能、也没有 SVS 模块。  BSL 是比2.x 低的版本、它能够禁用"批量擦除-错误密码"功能。

我的问题是、是否有人在这些芯片中遇到过不需要的批量擦除操作的类似情况?  执行一个坚实和果断的解决办法来防止这种情况的最佳途径是什么?

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    Hi Rod、

    您将使用复位引脚吗? 否则、您可以将其配置为 NMI 模式、以避免 器件意外进入 BSL 模式。

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    我们只将 RST/NMI 引脚用作常规 JTAG 接口的一部分、用于对芯片进行编程和调试软件(我们使用 CCS/Blackhawk 适配器)。

    如果阻止 BSL 模式是答案、熔断保险丝是否也起作用?  这将阻止通过 JTAG 端口进行 BSL 访问。   

    我确信我们遇到的问题是 BSL 的整体擦除安全功能、因此禁用 BSL 似乎是解决办法。 串行 UART 访问方法是否会意外调用 BSL?  (我们在应用中不使用该 UART 端口。)

    我将研究如何将 RST/NMI 引脚配置为 NMI ...谢谢!

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    您好 agian~
    我修改了固件 以将 RST/NMI 引脚的功能更改为 NMI、然后禁用 NMI 中断。  我已验证这确实会禁用硬件中的复位功能。  但是、这并不会阻止芯片被擦除。

    关于我们的问题的更多信息是、我们的系统可能会在芯片的 Vcc 电源非常不稳定的情况下出现(请参阅随附的 PNG 照片)。  当电路板和'F133芯片处于这种状态时、MSP430FF64的闪存需要2到8小时才能被擦除(即使禁用了复位引脚)。  当然、我正在努力消除系统对较差芯片的 Vcc 执行此操作的能力、但我们还需要了解这如何擦除闪存。

    目前、在所有遇到此意外批量擦除问题的系统中、我们在 RST/NMI 引脚上有一个22K Ω 上拉电阻器、在 TCK 引脚上有一个22K Ω/330pf RC 滤波器。

    以上是系统处于异常状态时 Vcc 的两个示波器屏幕截图。

    此外、还有一个问题: 如果禁用 RST 引脚(使其成为 NMI)阻止进入 BSL (正如我在 SLAU319AE 的第6页上看到的)、我的 FET 如何获得用于调试的芯片控制?

    谢谢!

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    Hi Rod、

    感谢您分享信息。 我认为错误的密码导致 BSL 擦除的可能性很小、因为它应该使用错误的密码和校正封装来传递 CRC、而这种封装太难由噪声产生。

    这种不稳定的 VCC 可能是原因。 由于它超出了特定条件、可能会导致意外操作、如您看到的闪存擦除。 由于该器件没有会增加风险的 SVS。 您是否尝试在 VCC 处添加一个巨大的电容器以使其稳定?

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    TI (明智地)不会指定当您操作超出规格的芯片时会发生什么情况、而是出于个人的观察:

    几年前、我们尝试使用试验电源为 F2系列器件供电。 我们发现电源可能出现一些非常糟糕的行为、包括负尖峰和过压尖峰(比上面的迹线差得多)。 我没有看到批量擦除、但我经常看到随机闪存位发生更改。 (非常明显、受扰芯片未遭受永久性损坏。)

    所以我想说至少有传闻证据表明这种结果是可能的。