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你(们)好
我面对的是采用 LC 传感器的床垫,该传感器由 MSP430Fr6989的模块 ESI 进行处理,当 室温为~10 C 时,,t 正常运行,但当温度变化时,会导致模块运行不正常。 我决定通过连接示波器从电路板上看到信号 LC,我看到信号受温度的影响。 所以,我阅读了 TI 的一些文档,并在 Msp430Fr6989的模块 ESI 中提到了这一更重要的,,它有一个针对过热运行的寄存器设置,但是当我设置时,某些寄存器无法正常工作
我遵循并使用以下 URL 中的此代码 URL 中的代码未设置溢出温度
https://www.ti.com/tool/TIDM-3LC-METER-CONV
信号的变化是根据温度变化衬里,在我的情况下,温度高于50°C
因此、请帮助我解决问题。
此致、
William
尊敬的 William:
LC 传感器对 环境敏感、如温度和湿度。 您可以尝试更改低温草案 LC 或在软件中添加运行时校准。
你(们)好
我不明白这里的运行时校准是什么意思。 我在文档"">www.ti.com/.../TIDM-3LC-METER-CONV"中有一个文档运行时校准。 在这里,代码使用模块 AFE2作为运行时校准,但它只校准振幅 LC 信号的漂移(Y 轴)。 当我按温度跟踪信号 LC 时,我可以看到周期 LC 的漂移(此 T = 2us,f = 500kHz L=470uH,C = 220pF)和内部高频的漂移(MSP430模块 ESI 的转延迟),两者都是漂移 X 轴。 上面的两个漂移,我在运行时校准文档 TIDM-3LC-METER-CONV 中看不到。
他能为我解释更多吗?
您好!
运行时校准可在工作时间内校准 DAC 的阈值。 您观察到的 LC 漂移的 LC 频率将发生变化、延迟时间不是 最大差分值的点。 如果您想修复此漂移、可以运行 Auto-TSM 校准、以在温度变化时找到新的比较点。 此校准需要光盘运行才能完成。
你(们)好
感谢您的回答! 所以,我还有两个问题。
MCU MSP430Fr6989的第一个模块 ESI 具有两个模拟前端(AFE),其中 AFE1是主要模块,AFE2是扩展模块。
运行时校准使用 AFE2来校准 DAC 的阈值、 但在示例代码">www.ti.com/.../TIDM-3LC-METER-CONV" 中,AFE2校准使用来自 AFE1 (信号 INTQ6 +1)的结果,这意味着当光盘连续运行时,AFE2可以按温度逐渐校准阈值 DAC,模块是正确的。 但是、当光盘在正常条件下停止、并且在漂移过大且 AFE1更差(未生成 INTQ6 + 1信号)时在任何温度下突然运行、并且涉及 AFE2无法通过从 AFE1发出的挂起信号运行。 这意味着在本课程中,该模块无法正常工作。
我明白这是对的吗?
第二个,基于答案“如果您想修复此漂移,您可以运行 Auto-TSM 校准”......
Auto-TSM()需要光盘的状态为停止,因此如果光盘从正常运行到任何点温度连续运行导致错误,我无法调用函数 Auto-TSM()来查找新的漂移点,它对吗?
当我无法控制环境温度并且光盘正在运行或未运行时、使用 MSP430FR6989的模块 ESI 时、您是否有任何建议可供我使用?
此致、
William
尊敬的 William:
有了问题、我可以加入并尝试快速帮助您。
谢谢!
此致
Johnson
您好、Johnson 和 Allen
感谢您的反馈,希望您能尽快解决此问题,我们的客户非常紧急。
再次感谢!
此致、
William
大家好
任何更新
此致、
William
您好!
AFE2上的运行时校准仅用于系统需要进行小校准才能跟随小漂移。 运行时校准还需要检测四个完整的旋转以使其正常工作。
在您的情况下,磁盘会在很长时间后停止并重新安装。 它将需要进行全面校准、包括自动 TSM 和 DAC 校准、以使其正常工作。
2.是的。 自动 TSM 校准需要磁盘保持停止。
3.您应该尝试使用一些对温度不太敏感的导体。
您还可以尝试调节 L 和 C 值。 频率=1/2*pi*sqrt (L*C)
尝试降低它可能有助于温度漂移的频率。
此致、
现金 Hao