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器件型号:MSP430FR2676 我们的客户希望了解静电破坏测试的结果。
例如:
条件 EIAJ 方法:C = 200pF、R = 0Ω Ω、200V 或更高
MIL 方法:C = 100pF、R = 1.5kΩ Ω、1.5kV
(希望:每个终端的销毁极限值的展示)
此致、
是的
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我们的客户希望了解静电破坏测试的结果。
例如:
条件 EIAJ 方法:C = 200pF、R = 0Ω Ω、200V 或更高
MIL 方法:C = 100pF、R = 1.5kΩ Ω、1.5kV
(希望:每个终端的销毁极限值的展示)
此致、
是的