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器件型号:MSP430FR2355 团队、
《MSP430 FRAM 器件引导加载程序(BSL)用户指南》的第3.3.3节 规定了以下内容:
'当空白检测被启用时、BSL 进入序列可被旁路。'
这是否意味 着空白器件可以以某种方式绕过 BSL? 如果是、请您对此进行解释。
谢谢。
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团队、
《MSP430 FRAM 器件引导加载程序(BSL)用户指南》的第3.3.3节 规定了以下内容:
'当空白检测被启用时、BSL 进入序列可被旁路。'
这是否意味 着空白器件可以以某种方式绕过 BSL? 如果是、请您对此进行解释。
谢谢。
尊敬的 Chris:
根据第3.3.3节:
空白器件检测
FR26xx、FR25xx、FR24xx 和 FR23xx MCU 上的启动代码支持空白器件检测、以避免 BSL 进入序列。 这不仅节省了时间、而且无需为 BSL 调用序列使用两条额外的导线(TEST、RST)。 启用空白检测时、可以绕过 BSL 进入序列。 仅当复位矢量的值为0xFFFF 时、器件才会直接跳转到 BSL 并绕过进入序列。
绕过进入序列可节省时间并避免使用两根额外的导线。
BR、
Leo