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[参考译文] MSP430FR2355:空白器件检测

Guru**** 2538930 points


请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/msp-low-power-microcontrollers-group/msp430/f/msp-low-power-microcontroller-forum/937868/msp430fr2355-blank-device-detection

器件型号:MSP430FR2355

团队、

 《MSP430 FRAM 器件引导加载程序(BSL)用户指南》的第3.3.3节 规定了以下内容:

'当空白检测被启用时、BSL 进入序列可被旁路。'  

这是否意味 着空白器件可以以某种方式绕过 BSL? 如果是、请您对此进行解释。

谢谢。

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    尊敬的 Chris:

    它只是被绕过的 BSL 进入序列-而不是 BSL 本身。

    BR、
    Leo

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    您好、Leo、

    请您更详细地解释其目的。 它会绕过 BSL 进入序列、因此肯定不会输入 BSL。

    谢谢

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    尊敬的 Chris:

    根据第3.3.3节:

    空白器件检测

    FR26xx、FR25xx、FR24xx 和 FR23xx MCU 上的启动代码支持空白器件检测、以避免 BSL 进入序列。 这不仅节省了时间、而且无需为 BSL 调用序列使用两条额外的导线(TEST、RST)。 启用空白检测时、可以绕过 BSL 进入序列。 仅当复位矢量的值为0xFFFF 时、器件才会直接跳转到 BSL 并绕过进入序列。

    绕过进入序列可节省时间并避免使用两根额外的导线。

    BR、
    Leo