[参考译文] MSP430F67791A：SLAA577G 代码库在100ms 内所需的计量数据

您好 ARS、

感谢您的详细博文。 更改这两个变量是一个很好的开始、看起来它们是正确的。 但是、100ms 比1秒周期短得多、因此在减少这么多之前、我建议尝试一半原始值、以查看通信/功能是否仍然正常。 如果确实如此、这是很好的。

但是、对于您的情况、您需要更快的报告、这意味 着使用 sample_per_10_seconds 的代码(您可以通过在项目文件中搜索此变量来找到该代码)可能无法针对如此低的值正常工作。 此外、您可能会过度运行通信速度、甚至计算每个相位的参数所需的时间量。 您可能需要提高通信和/或 CPU 速度、以确保数据的发送速度足够快、以便执行计算。

此致、

James

您好 James、

感谢您的回答。我需要您的帮助才能解决问题。

请注意，我的应用使用单相电压和 电流。并且，百分比计量误差可以高达2%。

在上述应用中，系统时钟以16MHz 运行，根据应用报告 SLAA577，ΣΔ24 ADC 的时钟选择为1.048576MHz，采样频率为4.096ksps。 即4096个样本/秒。 因此 、每个 ΣΔ24 Δ Σ ADC 采样中断的发生频率为244uec。

我的第一个选择：

 遵循  emeter-structs.h 中定义的宏

#define SAMPLE_RATE 4096
#define ADC_BITS 16.
#define SAMOESS_PER_10_seconds 40960ul

我仍然认为、仅将 SAMPLE_RATE 和 SAMPS_PER_10_Seconds 更改为1/10的值(即409和4090)、就不会在100msec 提供结果。因为我的理解是、根据宏名称建议 、SAMPLE_RATE 宏定义了在1秒时间间隔内累积的样本数。 因此，如果我将其设为409， 我认为现在相当于409个样本的样本数据将在1秒内累积，因此样本数据的上升 率不会降低(在我的情况下，我希望它在100毫秒内)。 相反、1秒间隔内的任何样本都不会减少。结果也是如此。

请评论！

我认为的第二个选项是：调用 log_parameters (phase)函数(来自 emeter-background.c 中的 ADC ISR 例程)，以减少采样数 (在本例中为409)。

// if (phase -> metal量.dot_prod.sample_count >= samples_per_sond)//原始代码
if (phase -> metal量.ode_prod.sample_count >= 409) //完成的更改，希望获取数据@100毫秒
{
log_parameters (phase)；
_BIC_SR_IRQ (LPM0_Bits)；
/*当作为主机程序运行时，没有 RTC，但我们仍需要以某种方式启动前台。 */
}


一
// if (phase -> metal量.dot_prod.sample_count >= samples_per_second + 200)//原始代码
if (phase -> metyetition.ode_prod.sample_count >=(409 + 10))//已完成更改，希望获取数据@100msec
｛
/*我们似乎没有检测到电源周期的结束，因此没有检测到力
处理块条件的结束。 *
log_parameters (phase)；
_BIC_SR_IRQ (LPM0_Bits)；
｝ 

但我不知道上述变化的副作用。 这第二种方法是否会以100毫秒的速度提供数据？这第二种方法是否正确？

Samples_per_second = Samples_per_10_seconds / 10.

  emeter-setup.c 和 emeter-background.c 中使用的" samples_per_10_seconds "值。我可以说明的是、它用于检查40至70Hz 之间的频带。

由于我们更加关注应用端代码并将 TI 计量代码库作为一个完整的工具库，我请求您的 TI 专家团队能提供合适的解决方案，使其在100mSec 下工作。   

谢谢、此致、

ARS

尊敬的 James 和 TI 团队：

1.我可否就上述申请要求及上述解释提供进一步的帮助？

2. 项目中有一个库文件 Emeter-fi-table.c、并且有 一个 FIR 系数表来校正相移。

const Int16_t fir _coeffs[][2]=
｛
｛32767、8198｝、// 2.1973度
｛31761、8326｝、// 2.1629度

三、会议的报告

}；

如果 系统时钟频率发生更改或采样频率发生更改，而不是4096Hz，我认为必须更改此表。 TI 是否提供任何计算器来生成 除4096Hz 采样频率之外的 fir 表。

3. 这是唯一决定采样频率的函数，可在 Emeter-setup.c 中找到

   在下面的代码中，我想让系统时钟频率= 25MHz (使用的外部晶振= 32.768kHz)和采样频率= 4096Hz

静态__inline__void init_analog_front_end_normal (void)
{

int i；
REFCTL0 = REFMSTR + REFVSEL_1 + REFON； /* Enabale Reference = 2.0V */
SD24BCTL1 &=~SD24GRP0SC；


#if MCLK_DEF = 25
SD24BCTL0 = SD24SSEL_SMCLK //时钟为 SMCLK */
| SD24PDIV_3 /* 8分频=> ADC 时钟：2MHz */
| SD24DIV1
| SD24REFS； /*使用内部基准*/
#endif



SD16INCTL_CURRENT_1 = CURRENT_PHASE_GAIN； /*设置通道1的增益*/
SD16CCTL_CURRENT_1 = SD24DF_1 | SD24SCS_4；
SD16BOSR_CURRENT_1 = 256 - 1；
// SD16BOSR_CURRENT_1 = 512 - 1；
SD16PRE_CURRENT_1 = 0；

SD16INCTL_CURRENT_2 = CURRENT_PHASE_GAIN； /*设置通道2的增益*/
SD16CCTL_CURRENT_2 = SD24DF_1 | SD24SCS_4； /*将过采样率设置为256 (默认值)*/
SD16BOSR_CURRENT_2 = 256 - 1；
// SD16BOSR_CURRENT_2 = 512 - 1；
SD16PRE_CURRENT_2 = 0；


SD16INCTL_CURRENT_3 = CURRENT_PHASE_GAIN； /*设置通道3的增益*/
SD16CCTL_CURRENT_3 = SD24DF_1 | SD24SCS_4；//| SD16IE； /*将过采样率设置为256 (默认值)*/
SD16BOSR_CURRENT_3 = 256 - 1；
// SD16BOSR_CURRENT_3 = 512 - 1；
SD16PRE_CURRENT_3 = 0；

SD16INCTL_NEUTRAL = CURRENT_NEW_GAIN； /*为通道中性设置增益*/
SD16CCTL_NEUTRAL = SD24DF_1 | SD24SCS_4； /*将过采样率设置为256 (默认值)*/
SD16BOSR_NEUTRAL = 256 - 1；
SD16PRE_NEUTRAL = 0；

// SD16BOSR_NEUTRAL = 512 - 1；


/*配置模拟前端通道2 -电压*/
SD16INCTL_VOLTGE_1 = VOLTGE_GAIN；
SD16CCTL_VOLTGE_1 = SD24DF_1 | SD24ALGN | SD24SCS_4；
SD16BOSR_VOLTGE_1 = 256 - 1；
// SD16BOSR_VOLTGE_1 = 512 - 1；
SD16PRE_VOLTGE_1 = DEFAULT_V_PRESALE_FACTOR；

// SD16PRE_VOLTGE_1 = DEFAULT_V_PRESALE_FAC因 子_A；

SD16INCTL_VOLTGE_2 = VOLTGE_GAIN；
SD16CCTL_VOLTGE_2 = SD24DF_1 | SD24ALGN | SD24SCS_4；
SD16BOSR_VOLTGE_2 = 256 - 1；
// SD16PRE_VOLTGE_2 = DEFAULT_V_PRALE_FACTOR _B；
// SD16BOSR_VOLTGE_2 = 512 - 1；
SD16PRE_VOLTGE_2 = DEFAULT_V_PRESALE_FACTOR；

SD16INCTL_VOLTGE_3 = VOLTGE_GAIN；
SD16CCTL_VOLTGE_3 = SD24DF_1 | SD24ALGN | SD24SCS_4；
SD16BOSR_VOLTGE_3 = 256 - 1；
// SD16BOSR_VOLTGE_3 = 512 - 1；
SD16PRE_VOLTGE_3 = DEFAULT_V_PRESALE_FACTOR；
// SD16PRE_VOLTGE_3 = DEFAULT_V_PRALE_FACT_C；


对于(i = 0；i < NUM_PASes；i++)
CHAN [i].metrology.current.in_phase_correction[0].sd16_preloaded_offset = 0；

SD24BIE=0x7F；
SD24BCTL1 |= SD24GRP0SC；

｝ 

此致、

ARS

在"emeter-background.c"中、此代码确定何时触发前台进程、该进程将完成计算并发送数据。 更改 Samples_per_10_seconds 会导致触发速度更快或更慢。 您应该能够使用选项1、该选项应自动为您执行选项2。

/*查看是否
记录了足够长的测量间隔，并捕捉下一个周期的开始。 只要
块
的长度合理、我们实际上并不关心有多少个周期。 设置至少1秒
比计算周期更好、因为它不受噪声
尖峰的影响。 同步到一个完整的周期数可减少
块到块抖动、尽管它不会影响
测量的长期精度。 //
if (phase -> metal量.dot_prod.sample_count >= samples_per_second)
｛
log_parameters (phase)；
_BIC_SR_IRQ (LPM0_Bits)；
//作为主机程序运行时没有 RTC，但我们仍需要使用
以某种方式启动前景。 * 

[引用 user="ars"]   emeter-setup.c 和 emeter-background.c 中使用的" samples_per_10_seconds "值。我可以说明的是、它用于检查40至70Hz 之间的频带。

没错。 由于您要调整 Samples_per_10_seconds、因此需要相应地调整该代码。 所发生的情况是、您的采样数不会递增、因为代码认为交流电源输入频率超出范围。

#IF 定义(MAIN_FREQUENCY 支持)
/*对样本计数应用限制、以避免尖峰或电源线逐渐耗尽干扰
频率读数太大*/
/*主电源应小于40Hz 或大于70Hz，以使此测试失败！ *
if (256*SAMPS_PER_10_seconds/700<= PHASE_>metality.cley_sample_count && PHASE_metality.cley.cley_sample_count <= 256*SAMPS_PER_10_seconds/400)
{

}
其他
｛
phase -> metal量 度.cycle_sample_count = 0； 

您好 James、

感谢您的指导。

1) 1)我遵循  了选项1：    更改了 emeter-structs.h 中定义的以下宏

#define SAMPLE_RATE 409   // 4096
#define ADC_BITS 16.
#define SAPESS_PER_10_seconds 4096ul   // 40960ul

下面的代码部分已更改。 如果 有任何问题、请帮我解决。

#IF 定义(MAIN_FREQUENCY 支持)
/*对样本计数应用限制、以避免尖峰或电源线逐渐耗尽、从而干扰频率读数过多*/
/*主电源应小于40Hz 或大于70Hz，以使此测试失败！ *

// if (256*SAMPS_PER_10_seconds/700 <= PHASE_>metal量 度量.cycle_sample_count && PHASE_metality.cycle_sample_count <= 256*SAMPS_PER_10_seconds/400)
//更改为.....
if (256*SAMPS_PER_10_seconds/70 <= PHASE_>metal量.cycle_SAMPLE_COUNT && PHASICLE->met量.cycle_SAMPLE_COUNT <= 256*SAMPS_PER_10_seconds/40)
{

}
其他
｛
phase -> metal量 度.cycle_sample_count = 0；
｝ 

if (phase－>metnationality.dot_prod.sample_count >= samples_per_sond) //完成的更改，希望获取数据@100毫秒
{
log_parameters (phase)；
_BIC_SR_IRQ (LPM0_Bits)；
/*当作为主机程序运行时，没有 RTC，但我们仍需要以某种方式启动前台。 */
}


一

if (phase -> metal量 度.dot_prod.sample_count >=(samples_per_second + 200))//完成更改，希望获得@100ms
的数据｛
/*我们似乎没有检测到电源周期的结束，因此没有检测到力
处理块条件的结束。 *
log_parameters (phase)；
_BIC_SR_IRQ (LPM0_Bits)；
｝ 

[引用 user="ARS"]

1) 1)我遵循  了选项1：    更改了 emeter-structs.h 中定义的以下宏

#define SAMPLE_RATE 409   // 4096
#define ADC_BITS 16.
#define SAPESS_PER_10_seconds 4096ul   // 40960ul

下面的代码部分已更改。 如果 有任何问题、请帮我解决。

[/报价]

看起来是正确的。

[引用 user="ars"> 我的应用可以接受电压和电流测量读数。但我观察到、反向电流检测在功耗较低的情况下需要花费大量时间。 例如。 如果我想检测100W 的反向电流，则注入105W 的电流需要500ms，但如果注入200W 的电流，则检测到180ms 的电流。您能在这里指导我缩短检测时间吗？[/引述]

我假设您要通过更改 PHASE_REGAL_THRESHOLD_POWER 来调整该电平。 是否启用 power_balance_detection_support？

还有 一个 power_balance_detection_support 可能会影响您的结果。 这些参数可能还需要 调整 PHASE_INDEAL_PONENT_CHECK。

 您是否将 NEL_MONITOR 支持定义为1？

/*！ 这是必须同意的连续测量块的数量
不平衡状态在我们接受它之前发生了变化。 */
#define PHASE_INGAL_persistence_check 5

星！ 这可以监控带电和中性点电流之间的平衡
用于篡改检测。 */
#define POWER_ALANGAND_DETECHNOT_SUPPLIC支持

/*！ 这是最小电流电平(跛行模式)和最小功率电平(正常)
模式)、在该模式下、我们将检查接地条件。 非常小
读数缺乏进行有意义的 FF 比较所需的精度和分辨率
中性点之间的差异。 */
#define PHASE_INGAL_THRESHOLD_CURRENT 500
#define PHASE_INGAL_THRESHOLD_POWER 2000年 

查看'emeter-forefore.c'、在检查"curry_Reversed"之前有一些代码。 该代码似乎取决于 NEUTRAL_MONITOR_SUPPORTING_SUPPORTY_POWER_Balance_DETECTENT_SUPPORT助 。

#if 已定义(power_balance_detection_support)
#IF 定义(single_phase)
x = TEST_PHASE_Balance (x、y、PHASE_INBALING_THRESHOLD_POWER)；
其他
x = TEST_PHASE_Balance (PHASE、x、y、PHASE_INBALING_THRESHOLD_POWER)；
#endif
IF (((PHASE_>STATUS & PHASE_INBONGH))
｛
/*当相位不平衡时，我们仅在中查找反向电流
电流的情况下产生最大的电流。 如果我们不施加此限制、则耦合
通过寄生 CT 电源变压器会导致反向情况
不正确地升高。 如果没有寄生电源、则该测试可能是
浪费时间。 *
if ((阶段->状态& CURRENT_FENT_NEUTRAN))
Reversed= phase -> status & I_nel_Reversed;
其他
Reversed= phase -> status & I_Reversed;
｝
#endif 

2) 为什么 在 emeter-background.c[/quot]的 ADC ISR 例程中调用 log_parameters (phase)函数两次？

在输入频率超出40至70Hz 时、这被称为两次超时。 如果您不应用任何内容、第二次调用将更新结果(虽然可能只是噪声)。 这也适用于测量不具有频率或过零的直流信号。

此致、

James

感谢 James 的支持！

[引用 user="James Evans 的说法]我假设您要通过更改 PHASE_REGAL_THRESHOLD_POWER 来调整该电平。 是否启用 power_balance_detection_support？

是的。 您是正确的。我已将宏值更改为50

#define PHASE_REGAL_THRESHOLD_POWER        50 //已更改

由于我没有检查任何不平衡、我还评论了以下内容。

/*！ 这可以监控带电和中性点电流之间的平衡
用于篡改检测。 *

//#define power_balance_detection_support

我的结果是在代码中执行上述操作。

/*！ 这是必须同意的连续测量块的数量
不平衡状态在我们接受它之前发生了变化。 *

#define PHASE_INDEAL_persistence_check 5.

但是、我在下面的代码中进行了更改  

/*！ 这是必须同意的连续测量块的数量

反转的当前状态在我们接受它之前发生了变化。 *

#define PHASE_REGAL_Persistence_CHECK  2  // 5

[报价用户="James Evans"]您是否将 NEL_MONITOR 支持定义为1？[/QUERPLET]

否 我的应用不需要中性监控或篡改检测。 因此、我没有对其进行定义

#undef nel_monitor_support

[引用 user="James Evans 的值]如果输入频率在40至70Hz 范围之外、则调用两次作为超时。 如果您不应用任何内容、第二次调用将更新结果(虽然可能只是噪声)。 这在测量不具有频率或过零的直流信号时也适用。[/quot]

好的。 注意到。 我曾观察到测量更新有相当长的延迟。 假设5 - 8秒。 测量输入时的电流。 例如、我注入了220V 交流测量输入、有时我停止了220VAC。 它应该在100-200毫秒内为零。 但有时我会看到、变为零需要5到8秒。可能的原因是什么？

谢谢、此致、

ARS

尊敬的 James 和 TI 团队：

除了我在上一篇文章中发表的几点意见之外，我想与大家分享在应用中也需要解决的问题。

我喜欢根据超出设定可编程阈值的有功功率值采取措施。

1。 例如，如果我将阈值设置为100瓦...并且在应用程序检查中，需要花费100瓦的时间。

情况 A：我注入102瓦，代码大约需要520 - 540毫秒才能确定是否超过100瓦。这不符合要求。

情况 b： 我注入250瓦，大约需要120 - 140 毫秒的代码来确定它是否超过100瓦。

我怀疑在100毫秒内，当注入的功率仅为100瓦时，代码无法检测到100瓦的有效功率。 但它会检测注入的功率何时更高(情况 b)。 为解决此问题，需要对库代码进行哪些更改？

2. 在下面的代码段中，请帮助我了解为什么在每个 ADC 中断中添加256？

#IF 定义(MAIN_FREQUENCY 支持)

phase -> metal量 度.cycle_sample_count += 256；

#endif 

感谢您的支持。

此致、

ARS

尊敬的 James 和 TI 团队：

我能否对上一篇帖子进行任何更新。但我仍然无法获得结果。

感谢您在图书馆的帮助...尽管我知道 TI 已转向新的 EMDC。

在 TI 网站上搜索时，我看到 了应用报告  SLAA638 ：单相和直流嵌入式计量(功率监视器)
MSP430I2040的使用 方法、该方法介绍 了... 对于 50Hz 信号、读数每4个交流周期更新一次、即80毫秒。 这与我的要求类似。 我认为与此注释相关的计量代码采用库文件格式。

TI 能否为我使用的 MCU 器件提供类似行的库...或任何综合详细指南。

谢谢、此致、

ARS