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您好、香榭丽舍
我的一位客户正在考虑使用 MSP430F6736 (或 F6736A)分流电阻器测量电流。
此时、他们遇到了 SD24问题、如下所示。
-使用单相 EVM 的硬件、使用 SD24驱动程序库的软件示例、在 MSP430Ware 上进行了修改。
-源代码:已附加
-症状:当我重复此操作以收集数据并反复重置 MCU 时,单通道 SD24转换结果值将与两个值范围组合在一起。
-详细说明:
-使用 JTAG 通过断点对超过2、000~10、000个样本和 SAW 数据进行三次平均的结果值。
此时,这三个数据的差距小于2,000。
但是、当我在 CCS 中复位并再次运行并在触发断点后看到数据时、有时它有超过5、000的间隙。
例如、第一个样本平均值为 67092163、 67090965 (1198间隙为第一个)、 67090893 (72间隙为第二个平均值)。
但执行重置并检查第二个样本平均值、然后 67100153、 67098878 (1275 GAP)、 67099391 (-513 GAP)显示7000个以上的第1个和第2个样本之间存在间隙。
-当条件 SD24输入引脚为开路、短路或某种级别时、总是会发生这种情况。
-在这种情况下,OSR:512,增益:16,打开 SD24输入引脚。
-更多意见
当 OSR 为512时、数据范围将为0 ~ 2^27 (-FSR ~+FSR)。 中间(0V)为67108864。
使用我的计算、OSR 512的值间隔4096将是15位时的1位 LSB 差。
3.以下行动没有改进
-更改增益、主调制器频率、VREF 作为外部1.2~1.4V (使用电阻器分压器)、SD24输入作为开路、短路、连接分流器。
如果您对此或某种想法有任何经验、请向我提供指导吗?
谢谢你。
e2e.ti.com/.../sd24_5F00_b_5F00_ex3_5F00_contConvSingleChannel.c
欧内斯特、您好!
如果我理解正确、问题是 SD ADC 的第一个平均样本关闭、而不是后续测量?
这似乎是一个稳定时间问题。 由于它们只是上电、我想它们正在改变 SD24的模拟输入设置。 用户指南的第29.2.6.2节说明了模拟输入设置。 它说
[引用用户指南]SD24BINCTLx 寄存器的任何修改都将在数字滤波器的下一个抽取步骤生效。 这些位被修改后、由于数字滤波器的稳定时间、接下来的三次转换可能无效。 这可以由 SD24INTDLYx 位自动处理。 当 SD24INTDLYx = 00b 时、转换中断请求在开始条件后的第四次转换之前不会开始[/引用]
这是他们看到的吗?
谢谢、
JD
你好 JD。
我们也修改了延迟。 第三个采样的转换结果也相同。
我想、如果您看到代码并执行我所做的操作、 那么您可以在10分钟内了解我的意思。
谢谢你。
欧内斯特。
嘿、Ernest、
[引用 user="Ernest Cho]Q:SD24CAL=1是测量用户指南29.2.6.2末尾提到的转换器的偏移。
它是否仅用于内部电压基准、不适用于外部基准?[/quot]
我的理解是、它应该适用于任何一种参考。 该转换器以 Vref 为基准、Vref 可由内部或外部提供。
[引用 user="Ernest Cho "]问:它应该在没有负载的情况下计算和校准,它是否正确?
我不确定负载是否重要。 SD24CAL 位也连接到 PGA、因此我相信 它不会受到外部负载的影响。 下面是可让人相信这一点的方框图。 我将尝试查看我是否可以找到有关此方面的更多信息、但 在您的一侧进行测试可能更容易。
谢谢、
JD
嘿、Ernest、
与 James 交谈、我们都觉得负载无关紧要。
此外、您还可以尝试将代码调整为第四个采样中断、并查看这是否也会改善这些第一个测量结果。
SD24_B_setInterruptDelay (SD24_BASE、 SD24_B_converter_1、 SD24_B_Four_SAMPLE_INTERRUPT);
谢谢、
JD