主题中讨论的其他器件： MSP430WARE、 MSP-EM-DESIGN-CENTER
您好、香榭丽舍
我的一位客户正在考虑使用 MSP430F6736 (或 F6736A)分流电阻器测量电流。
此时、他们遇到了 SD24问题、如下所示。
-使用单相 EVM 的硬件、使用 SD24驱动程序库的软件示例、在 MSP430Ware 上进行了修改。
-源代码：已附加
-症状：当我重复此操作以收集数据并反复重置 MCU 时，单通道 SD24转换结果值将与两个值范围组合在一起。
-详细说明：
-使用 JTAG 通过断点对超过2、000~10、000个样本和 SAW 数据进行三次平均的结果值。
此时，这三个数据的差距小于2,000。
但是、当我在 CCS 中复位并再次运行并在触发断点后看到数据时、有时它有超过5、000的间隙。
例如、第一个样本平均值为 67092163、 67090965 (1198间隙为第一个)、 67090893 (72间隙为第二个平均值)。
但执行重置并检查第二个样本平均值、然后 67100153、 67098878 (1275 GAP)、 67099391 (-513 GAP)显示7000个以上的第1个和第2个样本之间存在间隙。
-当条件 SD24输入引脚为开路、短路或某种级别时、总是会发生这种情况。
－在这种情况下，OSR：512，增益：16，打开 SD24输入引脚。
－更多意见
当 OSR 为512时、数据范围将为0 ~ 2^27 (-FSR ~+FSR)。 中间(0V)为67108864。
使用我的计算、OSR 512的值间隔4096将是15位时的1位 LSB 差。
3．以下行动没有改进
-更改增益、主调制器频率、VREF 作为外部1.2~1.4V (使用电阻器分压器)、SD24输入作为开路、短路、连接分流器。
如果您对此或某种想法有任何经验、请向我提供指导吗？
谢谢你。
e2e.ti.com/.../sd24_5F00_b_5F00_ex3_5F00_contConvSingleChannel.c
