This thread has been locked.

If you have a related question, please click the "Ask a related question" button in the top right corner. The newly created question will be automatically linked to this question.

[参考译文] MSP430F6736:SD24结果数据差异(具有两级)、在重新启动 MCU 后具有巨大的平均值。

Guru**** 2042920 points
Other Parts Discussed in Thread: MSP430F6736, MSP-EM-DESIGN-CENTER
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/msp-low-power-microcontrollers-group/msp430/f/msp-low-power-microcontroller-forum/775107/msp430f6736-sd24-result-data-difference-has-two-level-with-huge-average-once-restart-the-mcu

器件型号:MSP430F6736
主题中讨论的其他器件: MSP430WAREMSP-EM-DESIGN-CENTER

您好、香榭丽舍

我的一位客户正在考虑使用 MSP430F6736 (或 F6736A)分流电阻器测量电流。

此时、他们遇到了 SD24问题、如下所示。


-使用单相 EVM 的硬件、使用 SD24驱动程序库的软件示例、在 MSP430Ware 上进行了修改。
-源代码:已附加  
-症状:当我重复此操作以收集数据并反复重置 MCU 时,单通道 SD24转换结果值将与两个值范围组合在一起。

-详细说明:
 -使用 JTAG 通过断点对超过2、000~10、000个样本和 SAW 数据进行三次平均的结果值。
 此时,这三个数据的差距小于2,000。
 但是、当我在 CCS 中复位并再次运行并在触发断点后看到数据时、有时它有超过5、000的间隙。
  例如、第一个样本平均值为 67092163、 67090965 (1198间隙为第一个)、 67090893 (72间隙为第二个平均值)。
  但执行重置并检查第二个样本平均值、然后 67100153、 67098878 (1275 GAP)、 67099391 (-513 GAP)显示7000个以上的第1个和第2个样本之间存在间隙。
 -当条件 SD24输入引脚为开路、短路或某种级别时、总是会发生这种情况。  
 -在这种情况下,OSR:512,增益:16,打开 SD24输入引脚。

-更多意见
 当 OSR 为512时、数据范围将为0 ~ 2^27 (-FSR ~+FSR)。 中间(0V)为67108864。
 使用我的计算、OSR 512的值间隔4096将是15位时的1位 LSB 差。
 3.以下行动没有改进
  -更改增益、主调制器频率、VREF 作为外部1.2~1.4V (使用电阻器分压器)、SD24输入作为开路、短路、连接分流器。

如果您对此或某种想法有任何经验、请向我提供指导吗?

谢谢你。  


e2e.ti.com/.../sd24_5F00_b_5F00_ex3_5F00_contConvSingleChannel.c

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    欧内斯特、您好!

    如果我理解正确、问题是 SD ADC 的第一个平均样本关闭、而不是后续测量?  

    这似乎是一个稳定时间问题。  由于它们只是上电、我想它们正在改变 SD24的模拟输入设置。  用户指南的第29.2.6.2节说明了模拟输入设置。  它说  

    [引用用户指南]SD24BINCTLx 寄存器的任何修改都将在数字滤波器的下一个抽取步骤生效。 这些位被修改后、由于数字滤波器的稳定时间、接下来的三次转换可能无效。 这可以由 SD24INTDLYx 位自动处理。 当 SD24INTDLYx = 00b 时、转换中断请求在开始条件后的第四次转换之前不会开始[/引用]

    这是他们看到的吗?

    谢谢、

    JD

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    你好 JD。

    我们也修改了延迟。 第三个采样的转换结果也相同。

    我想、如果您看到代码并执行我所做的操作、 那么您可以在10分钟内了解我的意思。

    谢谢你。

    欧内斯特。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    大家好、团队、
    我的测试有一些改进。 因此、会出现一些问题。

    我设置 SD24CAL 位以获得 SD24偏移值、然后调整该值以获得 SD24 AD 结果、因此超过5000的间隙似乎有所改善。

    问:SD24CAL=1测量的是用户指南29.2.6.2末尾提到的转换器的偏移量。
    它是否仅用于内部电压基准、不适用于外部基准?
    问:它应该在没有负载的情况下计算和校准,它是正确的吗?

    谢谢、
    赵仁英
  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    嘿、Ernest、

    [引用 user="Ernest Cho]Q:SD24CAL=1是测量用户指南29.2.6.2末尾提到的转换器的偏移。
    它是否仅用于内部电压基准、不适用于外部基准?[/quot]

    我的理解是、它应该适用于任何一种参考。  该转换器以 Vref 为基准、Vref 可由内部或外部提供。

    [引用 user="Ernest Cho "]问:它应该在没有负载的情况下计算和校准,它是否正确?

    我不确定负载是否重要。 SD24CAL 位也连接到 PGA、因此我相信 它不会受到外部负载的影响。  下面是可让人相信这一点的方框图。  我将尝试查看我是否可以找到有关此方面的更多信息、但 在您的一侧进行测试可能更容易。   

       

    谢谢、

    JD

      

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    欧内斯特

    我还想向您推荐新的电能测量设计中心 MSP-EM-DESIGN-CENTER。 您可能已经知道了、但这是一款适用于 MSP430F67xx 器件的快速开发工具。

    谢谢、
    JD
  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    嘿、Ernest、

    与 James 交谈、我们都觉得负载无关紧要。  

    此外、您还可以尝试将代码调整为第四个采样中断、并查看这是否也会改善这些第一个测量结果。

    SD24_B_setInterruptDelay (SD24_BASE、
    SD24_B_converter_1、
    SD24_B_Four_SAMPLE_INTERRUPT); 

    谢谢、

    JD