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器件型号:MSP430FR5969-SP 主题中讨论的其他器件: MSP430FR5969
辐射测试报告提到 MSP430FR5969-SP 采用了一个 CBiCMOS 工艺构建。 我认为这意味着芯片的某些方面容易受到 ELDRS 效应的影响。 是否对 MSP430FR5969-SP 执行了 ELDRS 测试? 是否有涵盖此内容的报告? 如果没有、您能评论哪些特性与 CBiCMOS 制造的"BI"部分相关、例如比较器吗?
谢谢