[参考译文] MSP430G2755：在更换电池或通电几次后、它将处于异常运行状态。

您好、Lian、

您提到、即使在复位后、系统也不会恢复正常运行、并且这一切都是在一些循环通电或更换电池之后发生的。 在这种情况下、我会怀疑由于器件在电池更换或下电上电期间超出规格运行而导致的闪存损坏、或者 ESD 或超出规格运行导致器件损坏。 我们将需要更多信息来尝试确定根本原因。

1) 1)是否可以尝试使用 JTAG 或 SBW 读出器件以确定闪存区域是否已损坏？ 例如、您可以使用 MSP-FET 和 Elprotronic FET-Pro430 Lite 软件执行此操作、以读取代码图像并与您可以从 CCS 或 IAR 生成的 TI-txt 文件代码图像进行比较。 如果您发现您最初编程的图像与故障器件中的图像有任何意外差异、请告知我们。

2) 2)您还可以看到重新编程器件是否会使其再次正常运行？

3) 3)请在电池更换或下电上电操作期间监控进入 MSP430的 Vcc、并共享图像？ Vcc 上是否有尖峰？ Vcc 在上电时斜升是否缓慢或快速？

4) 4)当您对电池进行循环供电或更换电池时、MSP430上的任何引脚是否仍处于较高的电压电平或由其他电压供源、而 MSP 主 Vcc 未通电？

5) 5)您在应用中使用的 MCLK 频率是多少？

6) 6)根据应用手册《MSP430系统级 ESD 注意事项 》www.ti.com/.../slaa530中的建议检查您的设计是否存在 ESD 漏洞

所有这些问题都试图查看器件是否存在超出数据表"建议运行条件"部分(例如系统频率与电源电压)或数据表"绝对最大额定值"部分中额定值的情况 (例如、施加到任何引脚规格的电压-例如、当 Vcc 远低于引脚时、施加到引脚上的电压、违反了 Vcc + 0.3V 规格)。

此致、
Katie

您好 Katie：

很抱歉,我的答复很迟,请. 请参考答案并帮助检查问题。

1) 1)是否可以尝试使用 JTAG 或 SBW 读出器件以确定闪存区域是否已损坏？ 例如、您可以使用 MSP-FET 和 Elprotronic FET-Pro430 Lite 软件执行此操作、以读取代码图像并与您可以从 CCS 或 IAR 生成的 TI-txt 文件代码图像进行比较。 如果您发现您最初编程的图像与故障器件中的图像有任何意外差异、请告知我们。

答：  它们之间没有任何差异。

2) 2)您还可以看到重新编程器件是否会使其再次正常运行？

答：如果对器件进行重新编程、它将正常工作。

3) 3)请在电池更换或下电上电操作期间监控进入 MSP430的 Vcc、并共享图像？ Vcc 上是否有尖峰？ Vcc 在上电时斜升是否缓慢或快速？

 4) 4)当您对电池进行循环供电或更换电池时、MSP430上的任何引脚是否仍处于较高的电压电平或由其他电压供源、而 MSP 主 Vcc 未通电？

答： 此 应用没有其他电源。

5) 5)您在应用中使用的 MCLK 频率是多少？

答：MCLK 频率为10MHz。

非常感谢您的支持！

此致

祝你好运

祝你好运、

您提到、重新编程器件似乎可以解决该问题、尽管读取故障器件上的闪存没有显示任何差异。 您还提到复位不会恢复功能。 当您重置部件时、您是否通过 RST 线路执行此操作？

如果您只需再对器件进行一次电源循环、该怎么办？ 这是否还会恢复功能？

在故障状态下、您能否查看正常执行期间的电流消耗是否远高于预期？ 这种情况除了要求重启电源以解决复位问题外、还可能指示可能由 ESD 等原因引起的闩锁情况。

此致、
Katie

祝你好运、

有更新吗？ 您是否能够解决此问题？ 我们可以做些什么来提供进一步的帮助？

此致、
Katie