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[参考译文] MSP430F427:如何读取与放大器;使用 HEF4052在三相能量计中校准低功率因数

Guru**** 2581345 points
Other Parts Discussed in Thread: MSP430F427, MSP430F427A, TIDM-THREEPHASEMETER-F6779, MSP430F6779A, TIDM-THREEPHASEMETER-F67641, MSP430F67641, MSP430F67641A, MSP430F47197

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/msp-low-power-microcontrollers-group/msp430/f/msp-low-power-microcontroller-forum/603645/msp430f427-how-to-read-calibrate-for-low-power-factor-in-3-phase-energy-meter-with-hef4052

器件型号:MSP430F427
主题中讨论的其他器件:TIDM-THREEPHASEMETER-F6779MSP430F6779ATIDM-THREEPHASEMETER-F67641MSP430F67641MSP430F67641AMSP430F47197

尊敬的所有人:

我正在使用 MSP430F427和 HEF4052设计三相能量计。

校准单位功率因数后、单位功率因数中的功率是正确的、但在低功率因数中、我一直在读取功率。

请帮助并指导我如何在0.5滞后功率因数中校准它、并阅读《在所有功率因数下持续校正功率》。

我使用 CT 读取电流、因此需要校准 SD16PRE 变量。 请指导我如何为每个单独的相位校准 SD16PRE 变量、因为所有相电流的输入都通过 HEF4052通过单通道提供。

提前感谢。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Suman:

    作为一个重要方面、不建议在新设计(NRND)中使用 MSP430F427、但建议使用 MSP430F427A。 根据 CT 引入的相移、您可能需要延迟多个样本、您必须在不使用 SD16PRE 的情况下手动执行该操作。 如果电压和电流之间的未校准相移小于一个样本、则必须使用 SD16PRE 寄存器将电压读数延迟至电流通道上观察到的延迟量。

    此外、我怀疑 HEF4052会引入额外的相移。 由于该器件处于活动状态而不是无源状态、因此我担心该相移可能会动态变化。 您必须对此进行调查、以查看延迟是否恒定。 我不知道为什么需要使用外部多路复用器、但我建议使用我们具有更多 SD 通道的较新器件(例如 MSP430F6779A)。 此外、我们还提供了几个基于该器件的三相参考设计以及可借助提供的 GUI 校准每个相位的源代码。 TIDM-THREEPHASEMETER-F6779参考设计就是一个很好的示例。

    如果您无法使用此器件、我建议您参阅《MSP430F427's User's Guide》中有关配置 Sigma Delta 的第29.2.10节。 在对多路复用器的单通道进行采样时、请记住 HFE4052多路复用器的多路复用通道之间的延时时间。 我的建议是、您应了解如何校准单通道的相位延迟。 绕过多路复用器、专注于在60度(0.5功率因数)下补偿相位延迟。 然后、介绍多路复用器以计算其相位延迟。 然后、弄清楚如何处理多路复用通道数据。

    此致、

    James

    MSP 客户应用

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    MSP430F6779A 的出色低成本替代产品是 MSP430F67641A。 请查看 TIDM-THREEPHASEMETER-F67641 TI 参考设计、它采用基于 MSP430F67641的低成本三相电子电表。

    此致、

    James

    MSP 客户应用

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    尊敬的 James Evans:

    非常感谢您的回复。

    实际上、我已经设计了电路板、必须在 MSP430F427上工作。

    我正在为以下项附加例程:

    ADC 配置(Emeter_Init.c)。 (自动调用 ADC ISR 并采样)

    2. ADC ISR 例程(sb_read_adc.h)。  

    UPF 和0.5Lag 功率角色的校准(CALIBRAN.h)例程。

    请查看我的操作是否正确、或者我需要更新我的校准方式。

    在 UPF 上、我将获得正确的数据、但当我尝试在0.5滞后内读取行为时、数据每4096个样本发生一次变化。 可能是由于定期更改 SD16PRE 变量值和重新初始化 ADC。

    请帮助。

    感谢您访问 advance.e2e.ti.com/.../sb_5F00_read_5F00_adc.he2e.ti.com/.../calibration.h

    e2e.ti.com/.../Emeter_5F00_Init.c

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    [引用 USER="Suman Bharti">在 UPF 上,我获得的数据是正确的,但当我尝试在0.5滞后的情况下读取行为时,数据每4096个样本发生一次变化。 可能是由于定期更改 SD16PRE 变量值并重新初始化 ADC。[/QUERP]

    您肯定不想在正常运行期间更改预加载或重新初始化 ADC SD。 请记住、预加载只能调整样本之间的分数延迟、而不能调整整数延迟。 对于整数延迟、您需要手动延迟样本(例如、在结果数组中移动指针或索引)。

    此致、

    James

    MSP 客户应用

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    感谢 James 的回复、

    我已经上传了 ADC 初始化、ADC 例程和校准例程的源代码。

    尊敬的、我已经根据 msp430f47197设计了三相仪表。

    除了我设置为预加载寄存器的方式之外、我也在执行相同的操作。 由于在这里、一个通道上提供了3个 volateg 信号、而3个电流信号在另一个通道上、因此在每种情况下预加载寄存器是相同的、因此我将为此目的不断更改预加载寄存器。

    此外、您还提到了整数延迟。 您能否向我提供有关如何实现此整数延迟的任何源代码或逻辑。

    提前感谢您持续为 James 提供支持。