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[参考译文] CCS/MSP430FR4133：在 msp430fr4133/msp430fr5969/MSP430F5438中、测试引脚导致 MCU 复位问题

admin
Guru**** 2587345 points


请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/msp-low-power-microcontrollers-group/msp430/f/msp-low-power-microcontroller-forum/624656/ccs-msp430fr4133-test-pin-lead-to-mcu-reset-issue-in-msp430fr4133-msp430fr5969-msp430f5438

器件型号：MSP430FR4133

工具/软件：Code Composer Studio

 问题是、当我使 TEST 引脚处于高电平或低电平打开和关闭时、MCU 有时会复位。 测试信号如下所示：

问题：   什么导致 Rst/NMI 复位事件？

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    TI__Guru**** 2587345 points
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    您好、Gary、

    我将与团队一起检查此问题并向您提供反馈。
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    TI__Guru**** 2587345 points
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    您好、Gary、

    您是否会检查 DVCC 去耦电容器(10uF+0.1uF)是否已连接且未损坏？ 更好地遵循 DS 建议。
    如果取下电容器、可能会发生这种问题。

    谢谢、
    乔维·何
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    TI__Guru**** 2587345 points
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    您好、Jovi：
    硬件是 LaunchPad、我测试这些电容器不是击穿电容器。
    谢谢
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    TI__Guru**** 2587345 points
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    Gary、

    1、如果不需要 RST 功能、将 RST/NMI 配置为 NMI 功能

    2.在现场、如果 TEST 引脚上的外部噪声 触发该 RST、建议添加外部下拉电阻器以进行改进。 您可以参考文档 http://www.ti.com/lit/ug/slau320z/slau320z.pdf

    希望这对您有所帮助。