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[参考译文] MSP430F437:MSP430f437

Guru**** 1865310 points
Other Parts Discussed in Thread: MSP430F437
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/msp-low-power-microcontrollers-group/msp430/f/msp-low-power-microcontroller-forum/612195/msp430f437-msp430f437

器件型号:MSP430F437

 您是否具有100引脚 LQFP 封装内的 msp430f437的热特性。 (结至环境和结至外壳的热阻)

非常感谢、致以诚挚的问候

Andrea Brambati

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好 Andrea、

    遗憾的是、我在数据表中找不到该信息、并且无法提供这些特征。 我怀疑没有给出结至环境热阻(RθJA)、因为它是最常见的报告热指标、但通常被误用。

    可以将 TI 器件的热性能与其他公司的器件进行比较。 当两家公司都使用标准化测试来测量 RθJA、例如 EIA/JESD51-x 系列文档中 JEDEC 指定的测试时、情况就会如此。 但是、有时不遵循 JEDEC 条件、也不记录偏离标准的情况。 这些测试变化会对 RθJA Ω 的测量值产生显著影响。 因此、除非用 RθJA Ω 值报告测试条件、否则应将其视为可疑。

    RθJA 不仅是封装的可变函数、而且是许多其他系统级特性的可变函数、例如安装部件的印刷电路板(PCB)的设计和布局。 实际上、测试板是焊接到器件引线上的散热器。 更改测试板的设计或配置会更改散热器的效率、因此会更改测量的 μ RθJA。 实际上、在由 JEDEC 定义的静止 RθJA 空气 Δ Σ 测量中、芯片产生的功率几乎70%–95%从测试板而不是从封装表面耗散。

    在下图中、您可以看到 μ RθJA 不仅受封装本身的影响、

    RθJA μ m 本身不是封装的特性、而是封装、PCB 和其他环境因素的特性、因此最好将其用作不同公司之间封装热性能的比较。 您可以在我们  的《半导体和 IC 封装热指标》应用手册中阅读有关此内容的更多信息。

    此致、

    James

    MSP 客户应用