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[参考译文] MSP430FR69721:MSP430基座分频器、并观察振动测试导致的信息变化

Guru**** 2382250 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/msp-low-power-microcontrollers-group/msp430/f/msp-low-power-microcontroller-forum/650874/msp430fr69721-msp430-base-calender-and-watch-information-shift-due-to-vibration-test

器件型号:MSP430FR69721

您好、香榭丽舍

当我们对 MSP430基本系统进行振动测试时、该日历值被移位。

您是否听说 过振动测试产生的日历值,或者这种变化来自外部晶体?

此致、

Kz777  

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    您好 Kz777、

    我不熟悉 MSP430器件上的振动测试影响、但这可能会影响外部晶体振荡。 日历值的变化量是多少? MCU 此时是否生成振荡器故障标志? 您能否在振动测试期间使用示波器测量 VCC 和 XIN/XOUT 引脚?

    此致、
    Ryan
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    Kz777、

    您能否提供更多信息、或者是否可以关闭此主题?

    此致、
    Ryan