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[参考译文] MSP430G2553:如何确认保险丝是否熔断以进行故障分析

Guru**** 2589280 points


请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/msp-low-power-microcontrollers-group/msp430/f/msp-low-power-microcontroller-forum/650697/msp430g2553-how-to-confirm-if-the-fuse-is-blown-for-failure-analysis

器件型号:MSP430G2553

香榭丽舍

我的客户使用了 G2553、 现在正在进行小型生产。

他们发现 某些 G2553只能编程一次、而 JTAG 现在无法连接。

我们怀疑保险丝可能会意外熔断。

现在、我们的客户询问我们如何验证保险丝是否熔断。

除了 JTAG 无法连接外、如果保险丝熔断、症状是什么?

您是否会向我们展示除 官方故障分析外、如何知道 G2553保险丝是否熔断?

客户可以自行进行 X 射线分析。

是否可以通过 X 射线查看它?

如果是、您是否会向我们展示如何通过 X 射线图来查看它?

还是可以通过 TEST 引脚的电阻进行测试? 如果是、如何操作?

黄维恩

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    G2xx 系列上的保险丝只有在 SBW/JTAG 保险丝熔断序列期间、VPP (6-7V)被施加到器件引脚上时才能熔断。 如果器件保险丝熔断、FET 现在应该被熔断、这是因为在保险丝检查期间、SBW/JTAG 序列(在 Get 器件内)器件将以05555h 值进行响应。 如果我还记得、Katie Pier 几周前回答过、在 e2e 这里、如何通过测量 TEST 引脚上的电流来检查这一点(如果保险丝熔断或未熔断)、而不使用 FET。
  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    您好、Wayne、

    我不确定如何通过 X 射线分析检查物理保险丝、但可以使用一种方法来检查保险丝是否已熔断、如 SLAU320中所述。 SLAA685还进一步解释了物理保险丝的属性。

    此致、
    Ryan
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    Ryan、

    SLAU320中的第1.3.1.2节是否显示了如何检查保险丝是否熔断?
    www.ti.com/.../slau320ab.pdf

    我仍然很困惑。
    您是否会更详细地解释这对 G2553有何作用?
    我们应该如何测试保险丝是否熔断?

    此外、它说"在某些情况下(例如、插入电池)、当 TDI 为逻辑低电平时、TMS 的切换可能会意外发生。 在这种情况下、没有电流流经安全保险丝、但内部逻辑会记住执行了保险丝检查。 因此、保险丝被错误地识别为已编程(即、熔断)。"
    这是否意味着在某些情况下、保险丝可能会被明确地识别为在没有 CPUx 的 G2553上熔断?
    也就是说、即使工厂操作员不会意外熔断保险丝、但器件被视为熔断保险丝、无法再次进行编程??

    是否有任何物理方法来检查保险丝是否熔断、例如使用 X 射线、C-SAM、DE-Cap?


    由于这是生产问题、客户要求我们非常清楚。

    韦恩
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    韦恩、

    所有编程软件工具、诸如 CCS 或者 FET-Pro430、在 JTAG 进入序列中自动检查保险丝、因此、如果 JTAG 由于保险丝熔断而无法连接、将通知您。 您在系统上收到的具体错误消息是什么? 您对保险丝检查编程错误的分析是正确的、因此不满足这些条件非常重要。 我将与质量团队核实、以确定 X 射线/电容如何验证保险丝状态。

    此致、
    Ryan
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    Ryan、

    现在、我们怀疑我们的缺陷器件的保险丝熔断、因为 CCS 无法连接到它们、但客户想要进行验证。 这就是为什么我们要在这个帖子上提问的原因。

    "在某些情况下(例如、插入电池)、当 TDI 为逻辑低电平时、TMS 的切换可能会意外发生。 在这种情况下、没有电流流经安全保险丝、但内部逻辑会记住执行了保险丝检查。 因此、保险丝被错误地识别为已编程(即、熔断)。"

    在这里、某些情况意味着电源不稳定?
    即使保险丝被明确识别为已编程(熔断)、这是永久性的还是暂时性的?
    当我们使用稳定的电源对其进行下电上电时、它应该再次正常工作、以便可以连接 JTAG。

    我的理解是否正确?


    韦恩
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    韦恩、

    因此、只要按照图1-13等过程来复位 JTAG/TAP 状态机(图1-1)、重新检查 JTAG 保险丝状态、那么在电源稳定的情况下、这个问题就可以避免。

    此致、
    Ryan
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    如果我错了、TI 人员可以纠正我的问题、但"保险丝"是旧 PROM 时代的一个继电器、此时您实际上烧毁了金属迹线来对芯片进行编程。 现在、它全部是 EEPROM、几乎看不到。 您*可能*能够*使用电压对比 SEM 来查看它,但这不是我的专业领域。 您必须确切知道需要检查哪个 EEPROM 单元、我认为 TI 会考虑这种专有技术。