[参考译文] MSP430F123：熔丝检查期间复位线路的状态

有关 JTAG 的更多问题...

我正在查看保险丝检查的示波器迹线、我的 FET 工具执行8个 TCK 线路选通、一个 TCK 周期延迟、然后是 TMS 线路的两个选通、 最后是 TCK 线路的两个选通。 这几乎与相同

SLAA149表示："当在加电后初始化 JTAG 访问时、必须在 JTAG 访问被授予之前完成保险丝检查。 两次切换 TMS 信号会执行检查。 建议在 TMS 为高电平时向目标器件发送至少6个 TCK 时钟、然后在至少一个 TCK 时钟的时间内将 TMS 设定为低电平。 这会将 JTAG 状态机(TAP 控制器)设置为一个已定义的起始点：运行-测试/闲置状态。 在 JTAG 通信期间、也可以随时使用此过程来复位 JTAG 端口。"

但是 SLAU320ab 的状态是： 当在加电后初始化 JTAG 访问时、必须在 JTAG 访问被授权前完成一个熔丝检查。 两次切换 TMS 信号会执行检查。"  因此它们都同意两个选通脉冲、但 SLAU320ab 中的图1-13 有3个 TMS 选通脉冲、表明在第3个选通脉冲上检查保险丝。

那么、什么是正确的？

此外、SLAU320 LAU320ab 指出："在某些情况下(例如、插入电池)、当 TDI 为逻辑低电平时、TMS 的切换可能会意外发生。 在这种情况下、没有电流流经安全保险丝、但内部逻辑会记住执行了保险丝检查。 因此、保险丝被错误地识别为已编程(即熔断)。 为了避免这个问题、较新的 MSP430 JTAG 执行(具有 CPUXv2的器件-请见表1-15)也在执行 TAP 控制器复位时复位内部保险丝检查逻辑。 因此、建议首先执行 TAP 的复位、然后检查 JTAG 保险丝状态。。。"

这会产生两个冲突图、分别是 SLAU149中的图5和 SLAU320中的图1-13、关于何时复位 TAP 控制器。  

那么、什么是正确的？

最后、从 SLAU320中可以看到："在 SBW 模式下按照相同的顺序执行熔丝检查时、改变 TAP 控制器状态具有副作用。 如第1.2.3.1节所述、在每个 TDI_SLOT 中自动生成内部信号 TCK。 在 SBW 模式下执行熔丝检查、在 TAP 控制器复位后直接开始、在它的 Exit2-DR 状态中结束。 为了返回运行-测试/闲置状态、必须生成另外两个虚拟 TCK 周期；一个在 TMS_SLOT 期间 SBWTDIO 为高电平的 TCK、之后一个在 TMS_SLOT 期间 SBWTDIO 为低电平的 TCK (参考函数：ResetTAP_sbw)。" 但是、保险丝测试后的两个选通脉冲是否仅在 SBW 模式下必需、并且在4线制 JTAG 模式下这两个选通脉冲是否会产生任何影响(正如我的 FET 工具所做的那样)？

提前感谢、