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[参考译文] MSP430FR5969-SP：TID-请参见和可靠性(环境测试)

admin
Guru**** 2562120 points


请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/msp-low-power-microcontrollers-group/msp430/f/msp-low-power-microcontroller-forum/733807/msp430fr5969-sp-tid-see-and-reliability-environmental-test

器件型号：MSP430FR5969-SP

您好！

是否可以为 MSP430F5969-SP 获取 SEL (单粒子闩锁)数据？

2018年1月、(在论坛上)您表示您将在未来生成一份有关 SEU (单粒子翻转)的报告。 您是否有日期。 关于该套件的同样问题。

关于 MSP430F5969-SP 的 TID (电离总剂量)结果、我很惊讶 BiCMOS 的剂量率很高。 您知道 BiCMOS 裸片的行为取决于剂量率、为什么要对 BiCMOS 裸片使用高剂量率？

由于数据表中没有任何内容、您是否愿意分享对该组件执行的筛选流程/测试和资质审核组？

谢谢、此致、

Jacky

我们的 EP 器件不会受到辐射影响。 仅限我们面向航天市场的器件。
所有可用的 TI 辐射数据均可从以下网站获得： www.ti.com/.../space.html
我们刚刚发布 了 MSP430FR5969-SP。
单粒子锁定(SEL)在125°C 下的抗扰度可达72MeV.cm2/mg
辐射批次验收测试结果为50krad


是否有其他可用的 EMC 测试数据？

谢谢、此致、

Ankit

  • 0
    TI__Guru**** 2562120 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    Jacky、
    我将尝试解答您的所有问题。
    对于 SEL、我们测试了72MeV、没有发生闩锁事件。 不确定要查找的数据类型。

    我们在4月还收回了 SEU 的其他数据、但硬件存在问题。 我们刚刚完成了另一组测试运行、并正在进行数据编译和分析。 我们正在努力在年底之前完成并公布一份报告、可能在一个月左右的时间内完成报告草稿。

    对于 TID、该器件不是 BiCMOS、而是 CMOS。

    我们正在努力汇总资质认证摘要。 我希望它很快就会推出。 它将发布在 E2E 博文 e2e.ti.com/.../728119上 、并且可能还会链接到产品文件夹。 您可以转到该帖子、然后单击右侧的选项将"回复通知"切换为打开。 当该帖子更新时、这将向您发送电子邮件。

    如果这回答了您的问题、请单击"验证答案"
    此致、
    涉水
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    TI__Guru**** 2562120 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    感谢 Wade 的回答。

    请注意、在 TID 报告 SLAK022的表1 (§1.2第2页)中、芯片技术被称为 CBICMOS、这是什么意思 BiCMOS 或 CMOS？

    谢谢、致以诚挚的问候

    Jacky

  • 0
    TI__Guru**** 2562120 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    Jacky、感谢您指出这一点。

    我非常确信这是 CMOS。  我将与 TID 报告的所有者再次核实并更正文档。

    此致、

    涉水