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[参考译文] MSP430F5419A:TEST 引脚上的噪声

Guru**** 2535590 points
Other Parts Discussed in Thread: MSP430F5419A

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/msp-low-power-microcontrollers-group/msp430/f/msp-low-power-microcontroller-forum/705927/msp430f5419a-noise-on-test-pin

器件型号:MSP430F5419A

您预计 MSP430F5419A 上有噪声的测试引脚会产生什么结果?

这是否会导致闪存被擦除或损坏?

谢谢

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    尊敬的 Chris:

    就噪声而言、TEST 引脚确实是一个关键引脚。 TEST 引脚具有典型值为60kOhm 的内部下拉电阻。 如果电路板上连接了长迹线、外部噪声(例如真空吸尘器等较大电机的噪声)可能会耦合并导致测试变为高电平、从而使其进入 SBW 模式。 因此、在某些情况下、可能会发生意外行为。 但是、到目前为止、我们还没有看到闪存损坏。

    您看到了什么类型的错误?
    电路板上是否有更长的布线用于对器件进行编程?

    此致、
    Andre
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    尊敬的 Chris:

    如果您有其他问题、请告诉我?

    此致、
    Andre
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    尊敬的 Chris:

    您还有其他问题吗? 如果不是、请为解决您的问题的帖子选择"已解决"、以便关闭此主题。
    非常感谢!

    此致、
    Andre