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[参考译文] MSP430FR2311:红外反射感应子系统设计 ESD 问题

Guru**** 2618835 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/msp-low-power-microcontrollers-group/msp430/f/msp-low-power-microcontroller-forum/669710/msp430fr2311-ir-reflection-sensing-subsystem-design-esd-problem

器件型号:MSP430FR2311

您好!

我正在尝试  使用 MSP430FR2311实现红外反射感应子系统设计 、并且我有一个 Proplem。 使用荧光灯测试噪声时、ADC 样本损坏。 否则、所有测量均正常。 VR+设置为 AVCC、VR-设置为 AVSS 以用作 ADC 参考。 请建议我如何解决此问题?

此致、

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    您好!
    "荧光灯"是否意味着 ESD 测试?
    EMI 测试故障问题主要由外部电路引起。 该解决方案是针对具体情况的。

    此致、
    现金 Hao
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    您好、现金、
    我们使用名为"IR 反射感应子系统设计"的 TI 示例电路及其示例软件。 我们从 MP 获得了错误的值、我们添加了 i2c 以获取 ADC 值。 如果我们打开灯、我们会得到错误的 ADC 数据。 我们还屏蔽了光传感器。 你有什么意见吗?

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    您好!

    我和设计人员交谈过、红圈中的两个穿孔用于为 MCU 和相关电路提供金属屏蔽层。 如果您获取了一些错误的数据、可能需要添加金属屏蔽层。

    此致、

    现金 Hao