[参考译文] MSP430FR2111：DCO FLL 锁定时间

你(们)好、Horst

将该值加载到 CSCTL0寄存器可显著缩短 MCU 重启或退出低功耗模式时的 FLL 锁定时间。(不是上电)。我想确保 采样 A 引脚事件只是上电吗？

如果    采样 A 引脚甚至发生 重新启动或退出低功耗模式、 DCO 校准可以缩短 FLL 锁定时间。该值不会影响容差。 缩短时间取决于不同的器件。您能否使用示波器自行测试？

此致

Gary

您好、Gary、

感谢您的回答。

在计划的应用中、我们不打算在芯片中使用低功耗模式。 那么、上电后唯一关键时序。

我可以测量写入 CSCTL0寄存器时锁定 FLL 所需的时间。

但是、这最多可以为我提供新锁定时间的典型性能。 如果我想了解生产中的性能、我需要了解更多有关容差的信息。

我知道 DCO 变化有四个主要影响因素：

*电源电压

*温度

*器件与器件之间的差异

*未知因素(漂移等)

是这样吗？

如果写入 CSCTL0寄存器、则会使器件发生器件特定的变化。 我们的电源电压是固定的(3.3V 时)

因此温度和未知因素仍然存在。 这些变化是否有一些特征？

谢谢、

霍斯特

你(们)好、Horst

我们只提供 Vcc 为3.0V 的测试数据、数据表中的以下 DCO FLL 特性：

因此、如果您需要高精度、我建议您使用 XT1。