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[参考译文] MSP430FR2032:MSP430FR2032

Guru**** 2511985 points
Other Parts Discussed in Thread: MSP430FR2032

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/msp-low-power-microcontrollers-group/msp430/f/msp-low-power-microcontroller-forum/727204/msp430fr2032-msp430fr2032

器件型号:MSP430FR2032

您好!  

我有几个具有较高误差下的片上30C 校准的 MSP430FR2032。 存储在地址1A1Ah 和1A1Bh 中的数据相对大于正常单元、导致温度读数在实际温度应为30C 时变为23C、我想知道我们是否可以重新校准它并将数据覆盖到 1A1Ah 和1A1Bh 中?

此致

单长整型

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    您好、旺角长安、

    您可以重新校准数据并将其保存在 FRAM 中的某个位置。 但您不能覆盖1A1Ah 或1A1Bh 中的数据。

    此致、
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    您好、Ling、

    更改代码的时间太晚了。 在原型设计过程中、30C 的 MSP430初始温度适用于各种数据编码、因此我们直接调用1A1Ah 和1A1Bh 中的校准数据。 只有在大规模生产时、很少有器件无法正确校准、校准数据是不同的。

    1A1Ah 和1A1Bh 中的数据是硬编码的、还是可以在生产测试期间进行编程? 请确认吗?

    此致

    单长整型

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    您好、Monglong、

    是的、已确认1A1Ah 和1A1Bh 中的数据是硬编码的。

    此致、
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    您好、Monglong、

    您能否分享有关此问题的更多详细信息?
    有多少器件显示了这种增加的数据?

    此致
    Lukas
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    Monglong、

    您能否发布受影响器件的完整 TLV 数据?
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    您好、Dietmar、

    我们报告了7个器件、其温度读数要低得多、我们知道这是正确的。 生产通过器件进行检查、并与优秀器件进行了比较:

    良好器件的 ADC 数据:
    在30C 下测量 667
    Cal30 6666
    Cal85. 791.
    计算出的温度 30.44
    不良器件的 ADC 数据:
    在30C 下测量 665
    Cal30 677
    Cal85. 796
    计算出的温度 24.45378151

    不良器件30C 校准数据为677d、这使得实际30C 计算值降低了5C。 我想找出正确的7个器件的 Cal30寄存器、而不是丢弃、它没有任何问题、可能只是校准错误。

    此致

    单长整型

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    您好、Monglong、

    感谢您提供详细的结果。 实际上、它看起来好像没有完全校准的校准数据。
    是否可以将7个故障器件的完整内存转储发送给我们。 基于此、我们可以识别生产批次并检查生产测试数据。

    如前所述、在器件离开生产后、无法更改引导数据或 TLV 部分中的数据。
    我唯一能提出的建议是将其存储在 FRAM 中的其他位置、并使用此备用校准值而不是因数数据、但这是以前提出的。

    此致、
    Dietmar

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    您好、Dietmar、

    现在、我们总共有13个具有相同问题的器件、我认为对于最近制造的器件、这个问题正在增加。 所有这些单元的器件校准数据大致相同、30 drgre C 校准数据过高。  

    我是否可以知道在晶圆级或包装后进行了30度 C 校准? TI 工厂的校准过程是否存在问题? 我们开始跟踪 MSP430的数据编码、可能存在与数据编码相关的问题? 我们预计会出现+/-3C 误差、但我们会得到更多误差。

     MSP430数据表中的脚注附带如下内容:  

    (1)温度传感器失调电压可能会显著变化。 TI 建议进行单点校准、以最大程度地减小内置器件的偏移误差
    温度传感器。

    问题:如果 TI 执行了30C 和85C 校准、是否需要执行此操作? 单点校准的实际工作原理和作用是什么?

    此致

    单长整型  

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    您好、Monglong、

    让我接管此案例、并与系统团队一起检查详细信息。

    我很快会回来的。

    Lukas