[参考译文] MSP430FR6007：Delta ToF FR6007与 FR6047

您好、Foz、

不、这是意料之中的。 您能否发布6007和6047电路板的 ADC 采集结果？

BR、
Leo

感谢 Leo、

连接的每个板中的一个的 ADC 捕获。  如果您需要其他信息、请告诉我。

 非常感谢、

Foz Hughes

e2e.ti.com/.../FR6007_5F00_ADC.csve2e.ti.com/.../FR6047_5F00_ADC.csv

您好、Foz、

我在信号中看到的唯一区别是 FR6007信号约为1000个 ADC 计数、而 FR6047信号约为700个 ADC 计数。 您能否降低 FR6007的增益以提供具有700个 ADC 计数的信号？  您能否确认两个平台上使用的软件版本相同？   

BR、
Leo

您好、Foz、

您是否还可以使用谐振器测试 FR6007电路板以消除这一潜在问题？

BR、
Leo

您好、Leo、

我在两个电路板上交换了用于标准陶瓷谐振器的晶体、并捕获了 DToF 和 ADC。  这一变化没有明显的区别。

我使用 FR6007运行了两次测试、因为 ADC 采集值有点高、增益为1.0dB。  对于第二次测试、此值降低至-0.8dB。  我在这里附上了每次采集的 ADC、名为 FR6007-CR-ADC-RG.csv 的文件来自具有较低增益设置的 FR6007。

非常感谢您的帮助、

Foz Hughese2e.ti.com/.../FR6007_2D00_CR_2D00_ADC.csve2e.ti.com/.../FR6007_2D00_CR_2D00_ADC_2D00_RG.csve2e.ti.com/.../FR6047_2D00_CR_2D00_ADC.csv

您好、Foz、

平台之间的另一个潜在差异可能是调整寄存器设置。  您可以在《用户指南》https://www.ti.com/lit/pdf/slau367的第21.3.2节中找到有关这些内容的文档。 请参阅表21-1调整寄存器。   您能否检查6047电路板的修整寄存器设置并将这些设置与6007电路板上的设置进行比较？

BR、
Leo

您好、Leo、

我认为我们无法访问存储到器件引导数据存储器中的修整值。  如果有办法做到这一点、请告诉我、我会找到答案。

在固件(即香草)中、值设置如下：

FR6007：

   SAPHH0PUT = 0x00；   SAPHH0PDT = 0x0F；   SAPHH0TT = 0x0F；
   SAPHH1PUT = 0x0F；   SAPHH1PDT = 0x00；   SAPHH1TT = 0x00；

FR6047：

   SAPHH0PUT = 0x0F；   SAPHH0PDT = 0x0E；   SAPHH0TT = 0x0E；
   SAPHH1PUT = 0x0F；   SAPHH1PDT = 0x0E；   SAPHH1TT = 0x0E；

因此它们是不同的。  但是、据我了解、这些值仅在 hal_system.h 中定义了 test_trim_const 时使用、该值在 FR6007和 FR6047香草固件上都注释掉。  因此、MCU 应使用在制造过程中编程到 MCU 中的修整值。

是否值得改进固件中的修整值？  在各自的输入和输出通道中、电容器和电阻器的值有何变化？

非常感谢、

Foz Hughes

您好、Foz、

我认为最简单的解决方案是简单地调整 dToF 偏移、以补偿 FR6007上的这种差异。

BR、
Leo

您好、Leo、

感谢您的回答。  虽然我感谢您的所有帮助、但提供解决方法并不能帮助解决此问题。  FR6007的数据表声称它能够达到"<100ps 差分飞行时间(dTOF)精度"、但我们执行的测试似乎不同意这一点。  因此、我们不认为 FR6007的精度值得信赖、尤其是在商业产品中使用。  是否有办法上报此问题？

非常感谢您的所有帮助。

Foz Hughes