[参考译文] MSP430F6779：MSP430F6779 ADC10不读取满量程

SMCLK 的速度是多少(ADC10SSEL=3)？ 数据表(SLAS768E)第5.57节显示了 ADC 时钟要求。 在实践中、MODCLK (ADC10SSEL=0)始终在规格范围内、因为该时钟的设计对象是 ADC。

更一般地说、如果源具有高阻抗、则需要更高(更长)的 ADC10SHT 设置、以确保采样电容器有时间充电。

1) 1)您应该警惕在 ISR 中使用浮点。 (如果您可以完全避免它、例如使用缩放整数、那会更好。) 我看不到你的变量的声明;如果它只是终止条件(计算平均值),可能不重要,但如果 adcValues[]是浮动的,你可能会得到超限。

2)如果 CONSEQ=2、设置 ENC=0不会停止当前转换[请参阅用户指南(SLAU208Q)第二部分27.2.7.6]。 这意味着,在计算平均值之后,你可能会多得到一个 IFG0 ,这将在 adcValues[0]中留下一个过时的值。 [编辑：可能在终止时设置 IE0=0，然后在设置 IE0=1时设置 IFG0=0以重新启动序列。]

3)对连续读数求平均值可以降低信号上的随机噪声。 但这是假设信号在整个平均值计算周期内保持稳定。 如果这与另一个线程的实验相同、我认为您必须仔细进行设计、以便在您的采样窗口中获得一个 ADC 测量值。

我主要使用浮点将 ADC 值转换为实际电压、仅用于初始测试、以便将其与电压输入进行比较。 一旦一切正常、我就会清除这个代码。

这与我要测量 PWM 信号高侧的另一个线程相同的代码。 我计划确保 ADC 值高于某个阈值、以消除在 PWM 信号的高侧期间未发生的样本。  

那么、仅采集一个样本会更好吗？  

Unknown 说：

以下代码是否适合采集多个样本并对其求平均值？ 或者仅取一个样本是否更快/更好？

这是一种可怕的方法。 您的信号应该已经通过了抗混叠滤波器(如果没有其他任何情况、至少是一个简单的 RC 滤波器)、这意味着使用 MSC 根本不会改变信号。 这所做的就是对 ADC 内部噪声求平均值。 值。 它还对信号的源阻抗提出了严格要求。

如果要使用数字低通滤波器、请以所需输出采样率的几倍使用均匀的样本。 最佳值是2的幂数、因为这会创建定点结果。

感谢 David 和 Bruce 的建议！ 以下是我更新后的 ADC10 ISR 代码。  

ISR (ADC10、ADC10_INTERRUPT)
｛
  开关(__even_in_range (ADC10IV、ADC10IV_ADC10IFG)
  ｛
   案例 ADC10IV_NONE：
     中断；
   案例 ADC10IV_ADC10OVIFG：
     中断；
    案例 ADC10IV_ADC10TOVIFG：
      中断；
    案例 ADC10IV_ADC10HIIFG：
      中断；
    案例 ADC10IV_ADC10LOIFG：
      中断；
    案例 ADC10IV_ADC10INIFG：
      中断；
   案例 ADC10IV_ADC10IFG：
      ADC10CTL0 &=~ADC10ENC；
      ADC_RESULT = ADC10MEM0；//存储 ADC10通道0结果
      ADC10CTL1 ^= ADC10ISSH；//切换 ISSH 以在每个周期提供触发(EQU0)
      ADC10CTL0 |= ADC10ENC；
      中断；
   }
}