您好
我是否可以对 MSP430FR2676 CapTIvate 有疑问？
问题1：
我想有一个自动校准功能。
该校准是否在 MCU 上电时执行？
如果传感器电容通过 MCU 运行而变化、我们应该重新为 MCU 加电以进行校准？
问题2：
是否有关于老化引起的寄生容量变化的文档？
当微型计算机模具吸收水分时、针脚之间的特性发生变化等。
问题3：
我的客户担心、如果 MCU 不 会长时间关断、CapTIvate 就不会工作、或者传感器 特性会随老化而变化、从而导致无响应。
是否有任何信息证明我们可以使用 CapTIvate 正常表示随着老化改变电容。
谢谢。
GR
您好、GR、
这些问题中的大多数似乎与传感器性能以及 MSP 或传感器因温度和湿度引起的细微变化有关。 那么、或许有关于 LTA 算法的一些背景知识。
为了补偿其中任何变化、CapTIvate 库实现了一个 LTA (长期平均值)、该 LTA 能够在监控测量中的缓慢变化时保持传感器的灵敏度、并在必要时执行重新校准。 LTA 漂移的主要原因是 MCU 的温度变化和影响传感器电介质的湿度变化。
Q1 - MCU 在上电时以及每当 LTA (长期平均值)从校准点变化12.5%时执行校准。 每当 LTA 超过12.5%限制时、CapTIvate 库会自动执行重新校准、因此无需从应用内对此进行监控或控制。
下面是温度测试数据。 您可以 通过此链接阅读更多信息。
Q2 -没有专门与 MSP430封装的吸湿性以及对引脚电容或老化所产生的影响相关的文档或测试数据。 尽管可以忽略不计、但这些变化中的任何一个都将反映在 LTA 的微小变化中、如上所述、LTA 算法将跟踪这些变化并 通过在必要时重新校准来自动进行补偿。
Q3 -请参阅问题1的答案。 MCU 可以无限期地保持通电、而无需传感器开始无响应。
所有可能影响电容性能的 MSP430老化、吸湿性、温度变化等相关问题都不是问题、因为 LTA 算法专为补偿这些变化而设计。
