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[参考译文] MSP430FR2475:使用哪个晶体进行测试?

Guru**** 1138100 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/msp-low-power-microcontrollers-group/msp430/f/msp-low-power-microcontroller-forum/1336651/msp430fr2475-which-crystal-used-for-test

器件型号:MSP430FR2475

您好

我是否可以对 MSP430 MFCLK 测试条件有疑问?

我想知道用于  8.12.3.2 DCO FLL 频率测试的晶体?

我在本文中找到了建议使用的晶体、但无法找到用于 DS 测试的晶体。

MSP430 32kHz 晶体振荡器(修订版 D)
https://www.ti.com/lit/an/slaa322d/slaa322d.pdf

谢谢。

GR

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    您好,GR

    可以。 MSP430 32kHz 晶体振荡器(修订版 D)是有关32KHz 晶体选择的正确文档。

    请检查2个晶体选择章节和表3。 本文档的安全因子测试结果

    此表中的任何器件型号都可以。

    或遵循2个晶体选择章节的其他器件型号和供应商应该可以

    谢谢

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    您好、Li

    感谢您的信息。

    我想知道外部晶体的误差情况、其中 MFCLK 的误差最大值为±0.5%。
    识别"32kHz 晶体振荡器(修订版 D)"常见晶体中出现的30ppm 精密晶体的最大误差±0.5%是否正确?

    此致、

    GR

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    您好,GD

    基于外部晶振的 FLL 的误差为±0.5%。

    晶振上30ppm 的误差(室温)是3/100000、远远小于0.5%。

    我认为来自晶体的误差包含在±0.5%

    谢谢

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    你好,LI

    感谢您的信息。

    我明白了。

    此致、

    GR