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[参考译文] MSP430F6777:MSP430F6777

Guru**** 2027820 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/msp-low-power-microcontrollers-group/msp430/f/msp-low-power-microcontroller-forum/1462206/msp430f6777-msp430f6777

器件型号:MSP430F6777

工具与软件:

尊敬的相关人员:

在我们公司开发的 EVC 项目中、我们使用 MSP430F67X7系列 TI 控制器。 根据 EFT-IEC/EN 61000-4-4标准;先前使用2kV 振幅信号对器件进行了测试、现在将使用4kV 振幅信号对器件进行测试。 我们目前正在研发新产品以通过测试、该产品正在开发中、但在4kV 突发测试期间、我们遇到了控制器抗扰度问题。 在4kV 突发测试期间、控制器冻结或复位。

 

除了我们所做的整体系统改进之外、我们还尝试通过在该特定测试的控制器输入引脚上添加串联1k 电阻来阻止到达控制器的脉冲。 但是、在测试期间、我们仍然面临控制器复位问题。 为了找到更详细的解决方案、我们开发了一个软件、在我们使用的日志文件上显示重置根本原因、我们将使用该软件同时检查重置原因。 我们经常遇到的原因之一是"No Interrupt Pending (无中断挂起)"、但我们尚未全面分析相关解释。

 

先前有没有分析过处理器在测试过程中以这种方式冻结的原因? 我们是否可以采用任何其他具体方法来防止此问题? 此外、是否有方法可以确定哪个端口提供"No interrupt Pending (无中断挂起)"消息? 对于提高此测试场景中的抗扰度、TI 工程师还有其他建议吗?

 

感谢您的支持。

即、我们的测试设备为"EMTest UCS500N"、测试条件已设置为 V = 4000V 和 f = 5.0kHz