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[参考译文] TRF7970A:RFID 模块读取卡在70度以下似乎无法正常工作

Guru**** 2454880 points
Other Parts Discussed in Thread: TRF7970A

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/wireless-connectivity/other-wireless-group/other-wireless/f/other-wireless-technologies-forum/1103570/trf7970a-the-rfid-module-read-card-seems-not-working-under-70-degree

器件型号:TRF7970A

你(们)好  

我们使用 TRF7970A +MSP430F2370IRHAR 作为 RFID 模块来轮询读取 iso14443a uid。

当环境在70度温度下加热 RFID 模块超过30分钟时、RFID 模块将死机而无响应、无法读取卡。

我们进行了一些测试:

  1. 发生问题时,TRF7970A 引脚30 OSC_OUT 死区时钟
  2. 使用外部 TXCO、问题仍然存在。。
  3. 在电源中添加电容器后无法解决问题。。
  4. 如果我们使用外部电源、无法解决问题。
  5. 在我们进行 A-B-A 交换 TRF7970A 之后、问题出在失效 IC 上
  6. TRF7970A 射频重新匹配–谐振修复问题
  7. 只需测试 MSP430 GPIO 高/低,其在高温下的工作情况。 但  MSP430 + TRF7970无法读取卡。 (加热时间约30分钟)。

有什么解决方法的想法吗??

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    是否有更新?? 谢谢、

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    您好、Aichi、

    OSC_OUT 属于晶体振荡器。 您是否已验证所用晶体是否符合温度额定值?

    晶体的负载电容是否与晶体类型匹配?

    TRF7970A 的 IC 有多少受影响?

    如果只是一个 IC、我建议通过我们的供应商退回 IC。

    此致、

    Andreas。

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    尊敬的 Andreas:

    Q:OSC_OUT 属于晶体振荡器。 您是否已验证所用晶体是否符合温度额定值?

    -->晶体的温度为-40 ~ 85度,这是 TI 建议的。

    使用 函数发生器和  TCXO 来替代晶体出现相同问题。

    Q 晶体的负载电容是否与晶体类型匹配?

    ->是

    TRF7970A 中有多少 IC 受到影响?

    ->大约为4800件的60%。

    BTW、我的客户报告说、如果我们通过轮询模式读取卡、则故障单元将通过测试。 但如果我们通过 UART (从主机到 MSP 端)发送命令/响应、则会失败。

    设备发生故障后、我们只需重新启动 RFID 模块、即可恢复。

    希望我们可以在非轮询模式下解决这个问题。

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    您好、Aichi、

    目前、我正在与客户支持部门沟通、您也联系了客户支持部门。

    我不会在这里同时更新,但我将在有结论时在这里公布,以便向论坛成员分享解决办法。

    此致、

    Andreas。

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    您好!  

    我们在这一问题上非常紧迫,因为这一大块 MP 系统可能会失去业务。 是否有更新??

    客户已完成更多测试:

    按照您的建议、我将在以下条件下进行测试。测试完成后、我将与您分享测试结果。

      #1.MSP430将由 VDD_X (TRF7970A)供电

        //TRF7970 Vin=3.3V

     

      #2.MSP430将由 VDD_X (TRF7970A)供电

       //TRF7970A Vin=5V

     

    https://www.ti.com/lit/pdf/sloa205

      在本手册中、所有说明都是关于断电模式的 IO 配置的。

      对于我们的应用、该模块将不会进入断电模式。

      我将 EN2连接至 GND、EN 下拉并连接至 MSP430 I/O
      此配置是否正常?(参考文档 page.26)   

      https://www.ti.com/lit/an/sloa184/sloa184.pdf?ts=1654588279068&ref_url=https%253A%252F%252Fwww.ti.com%252Fproduct%252FTRF7970A

     

    3.测试坏板,将 C12更改为330pF,其中70%可以在高温下正常工作。

      我们测量到 RX 电压的变化值约为2V、而实际变化值约为2.7V。

      这是否可能是原因之一?

     

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    您好、Aichi、

    以下是我的答案:

    1. 好的。 或者、可以将 VDD_I/O 连接到 MSP430的 VDD。
    2. 如果 MSP430 I/O 强制为低电平、此配置仍会导致断电模式。 在该状态下、VDD_X 也会关闭、这意味着 MSP430不能由 VDD_X 供电 请参阅 TRF7970A 数据表中的表6-3。 如果 MSP430应该控制断电模式、那么它必须由一个永久电压供电、而不是 VDD_X (例如 VDD、并且 VDD_I/O 也被连接至 VDD。
    3. C11=C12=1200pF 是参考设计。 老实说、我从未见过应用、也从未将参考设计用于天线匹配。 (在匹配电路中、我还没有看到过温度相关性。) 降低 C12会使 RX_IN1的电压一目了然,但我不确定它如何调整整个匹配。 有关 RX 输入的更多详细信息、请参阅 TRF7970A 数据表中的第6.4.1章、但最后、我建议坚持参考设计。 另一方面、如果修改后的电路工作得更好、则可能是一种有效的方法。 也许布局低于优化水平、不调整匹配、也许修改后的 C12正在补偿此不匹配。 我不知道。 实际上、您可以测量 CON-P1的 TX 输出功率以确认匹配。

    如果您有其他问题、请告诉我。

    此致、

    Andreas。

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    您好!

     

    对于 Q1、Q2

    我们通过以下步骤进行了测试、但不幸运。  

    TRF7979A VDD_IO 连接3.3V

    2.MSP430 VDD 连接到 TRF7970A VDD_X

    MSP430 VDD 连接至3.3V

    4.TRF7970A VDD 连接至5V

    只有将  TRF7970A RX_IN1置为低电平、才能降低故障率。

    对于 Q3、

    我们尝试最大程度地提高 TX 功率。

    但是、由于问题只会更快发生、因此我们仍然调整 C12电容器以降低 RX 电压、从而减少问题。

    还有一个问题、TRF7970A 是否可以在工厂中改变某些东西?

    8~9、我们使用相同的设计几乎是年没有 任何硬件/软件更改就没有此类问题。 但是、在最近、我们仅解决了2.5K 器件中约60%的问题。

    这是我们的标签。

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    您好、Aichi、

    感谢您的反馈。

    我检查了 TRF7970A 的制造情况、没有任何异常。

    请通过经销商的客户退货渠道发回一些不良器件。

    此致、

    Andreas。