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[参考译文] CC2543:温升导致的频率漂

Guru**** 1781240 points
Other Parts Discussed in Thread: CC2543
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/wireless-connectivity/other-wireless-group/other-wireless/f/other-wireless-technologies-forum/1410519/cc2543-frequency-drift-due-to-temperature-rise

器件型号:CC2543

工具与软件:

根据 TI 发布的标准电路、我使用 CC2543RHBR 和 XRCGB32M000F2P10R0 (Murata)创建了一个无线电路。

当我用频谱分析仪进行检查时、发现随着环境温度升高、无线频率开始发生变化。

这种现象发生在温度从开始运行时上升约为4592 122°的情况下。 例如、从68°开始、无线频率开始在158°附近移动、在176°附近移动、频率漂移超过10 MHz。

重置无线电路电源可将无线频率恢复为正常频率。

当温度降低时、也会出现这种现象。 (例如、在167°处重置电源后、当温度下降到77°F.附近时、就会发生这种现象)

是否有人知道此问题的原因或有任何潜在的解决方案?

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好!

    根据对问题的描述、我没有立即的答案。 您能否提供更多详细信息:

    • 这适用于已经投入生产的系统吗? 这是一个器件所独有的、还是在所有测试的器件上都发生了这种情况?
    • 该测试使用的晶体不符合 CC2543数据表规格。 您是否可以重复测试以查看正确的晶体是否可以解决您所看到的问题?
      • 晶体的最大 ESR 为70欧姆、而器件要求为60欧姆
      • 晶体具有6pF 的目标负载阻抗、其中晶体负载电容应介于10pF 和16pF 之间
    • 完成上述操作后、如果问题仍然存在、您可以申请原理图和布局审核。

    谢谢!

    周杰

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    你好、Jake、

    感谢您的快速响应以及指出晶体规格的潜在问题。

    要回答您的问题:

    该系统尚未投入生产;我们仍处于测试阶段。 到目前为止、在测试的所有设备上都出现此问题。 我们将使用符合 CC2543数据表规格的晶体进行测试、特别是解决您提到的 ESR 和负载电容值。

    再次感谢您的帮助。

    此致、  

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    即使使用 TI 的评估板、也会出现同样的现象。

    因此、我正在调查相关设置。 您可以解释一下寄存器 PRF_CHAN。 Synth_on ? 目前、在运行过程中它始终设置为1。 如果始终将其设为0或从1重复切换为0、则不会出现这种现象。

    有人知道原因吗?

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    您好!

    我在这里找到了此设置的参考:

    https://e2e.ti.com/support/wireless-connectivity/other-wireless-group/other-wireless/f/other-wireless-technologies-forum/195091/cc2543-2544-radio-frequency-synthesizer-calibration

    看起来、如果合成器始终开启、则可能会导致宽温度范围内的校准出现问题。  有关更多信息、请访问 TRM https://www.ti.com/lit/ug/swru283b/swru283b.pdf