Thread 中讨论的其他器件： UCC21710
工具与软件：
你(们)好、
我们使用一个 SiC MOSFET 和六个 UCC21750驱动器设计了一个三相逆变器。 我们使用一个半桥驱动器、每个 PCB 有两个 UCC21750。 简化设计如下所示。 
该逆变器在高达~750V 直流电压下仍能正常工作。在750V 直流电压以上时、我们可以看到底部 FET 不再可靠地接通。 对于第一个示例、我们测量了：
CH1：电流(空载)
通道2：IN-
CH3：栅极
CH4：IN+
该示例显示门在开始时打开、然后在第二个时钟周期中、门最初打开、然后下降、再次上升、然后保持低电平。
信号上有相当多的噪声。 我们没有光耦合隔离式探头、因此可能是测量问题... 下面是正常开启和非正常运行的对比：
由于工作开启时的噪声与非工作时的噪声非常相似(IN+- IN-的差异不受振荡的影响)、我们怀疑是 DESAT (尽管我们没有得到驱动器的故障)。
我切换到仅测量高压侧的非隔离式探头：
CH1：电流
通道2：VDD
CH3：栅极
CH4：DESAT
有效导通时、我们在 DESAT 引脚上得到~5.5V 的电压、该电压远低于9.15V 阈值。 非隔离式探头会产生大振荡、信号看起来没有问题。 即使没有连接探针、我们也会遇到无法正常工作的导通问题。
我们继续测量 RDY 引脚、再次改为隔离式探头：
通道1：RDY
通道2：IN+
CH3：栅极
CH4：IN-
由于它不会变为或保持低电平、我们测量了故障和使能引脚：
CH1：栅极
通道2：IN (IN+- IN-)
CH3：故障(引脚13)
CH4：EN (引脚14) 
故障引脚在导通期间下降一位、但栅极上升。 在~6µs 之后、栅极关闭、但 IN、EN 和故障此时完全稳定。
~还发现、该驱动器正在处理一些占空比、550µs 一旦在尝试再次开启栅极之前停止工作、该驱动器将继续不起作用。
CH1：栅极
通道2：输入
我用绿色标记了驱动器工作的占空比区域、用红色标记了驱动器无法打开门的占空比区域。 特别有趣的是550µs 保持低电平后的短脉冲、在这种情况下、它会轮胎打开门、但在 IN 信号下降到低电平之前再次将门关闭。
我对在驱动器 PCB 上测量什么的想法非常不清楚。 现在、我们将尝试通过在电源中添加 CMC 并分离高侧与低侧驱动器来降低交流高电压的耦合电容、因为我们只会在低侧发生这种行为。 如果您能向我们提供有关如何解决这个问题的提示、我将不胜感激。
此致
Bernhard Baier
