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[参考译文] LMG2100R026:关于损坏模式

Guru**** 2378650 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1502608/lmg2100r026-about-corruption-modes

器件型号:LMG2100R026

工具/软件:

GaN 在驱动后会立即损坏。
使用测试仪检查损坏后的电阻时、Vcc 和 GND 之间的电阻值较低。
在哪些情况下会发生这种类型的损坏? 
另外、观察波形、高侧开关似乎不稳定且出现故障。
我不知道这是否与损坏有关、但我认为内部栅极驱动器存在导致异常的问题。
 
  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好:

    请在此处提供更多背景信息、首先说明用例:
    -拓扑
    -测试条件
    -其他意见

    接下来、您能分享一些波形吗? 了解施加的 VCC 电压、任何 SW 波形以及显示所描述"不稳定"开关的波形会有所帮助。

    谢谢、
    Zach S