工具/软件：
您好、
我们正在使用 BQ25896开发一款产品、并且我们观察到了一些与 NTC 故障相关的奇怪行为：我们 经常读取故障寄存器、一段时间后、NTC 状态在"热"和"正常"之间振荡。 更准确地说、寄存器报告"NTC HOT"、然后在后续读取时报告"正常"、然后再次报告"NTC HOT"等、 周期可变、介于1和10秒之间。
根据 数据表的§9.2.16.7、如果电池确实很热、我们预计 NTC 故障保持在"热"状态："唯一的例外是 NTC_FAULT、它始终报告 TS 引脚上的实际情况"。
但是、我们使用的电池距离60°C 很远、因此我们根本不应该看到"NTC HOT (NTC 热)"。
VBUS 已拔出、但在使用4.2V VBUS 时也发生了几次这种情况。
使用 BQ25896评估板进行测试时、我们能够在 VBUS 关闭和4.2V 时始终重现相同的问题。 我们不得不设置 JP10关闭和 JP8启动,以强制振荡。 我们将问题范围缩小到 了一个简单的配置(默认配置)、即禁用看门狗并启用连续 ADC 转换。
一些有趣的观察结果：
-振荡的频率增加,当我们更频繁地采样 NTC 故障(这不是 I2C 频率)。 例如、 每秒采样5次 会导致 NTC 故障以1s 的周期振荡。 每秒仅采样两次会导致振荡周期≈5秒。 INT 和 STAT 引脚也会以 不同的占空比振荡(请参阅下面的前两幅图)。 STAT 有时会消失并停止脉冲(占空比降至0%)、而问题仍然存在、从而导致 STAT 输出在我们的应用中无法使用。 由于跳线配置为强制 NTC 进入"热"状态、因此我们应该连续读取"NTC 热"、并使 STAT 引脚以1Hz 的频率闪烁(如§9.2.16.7和表5中所述)。
-我们尝试读取 CONV_START 的值、以查看在读取 NTC 故障时是否正在进行 ADC 转换。 当我们观察到"NTC HOT"时、CONV_START 更频繁地为1比0、但由于读取之间的延迟、这很难确认。
-在切换到一次性 ADC 转换时、以及在读取 NTC 之前手动写入/读取 CONV_START 时、该问题似乎已经解决。 在这种情况下、NTC 故障保持在"热"状态、STAT 以1Hz 的频率闪烁、占空比正如预期的那样。
-当 VBUS 高于4.3V 时,问题似乎也会消失。 NTC 故障保持"热"状态、STAT 以1Hz 的频率和50%的占空比闪烁、符合预期。
这导致我们假设当 ADC 转换处于活动 状态时、NTC 值可能不可靠、并且不会在内部状态机中正确保持。 但是、我们不能解释最后一点。
你对此有何看法？ 您是否了解为什么会发生这种情况？
如果我们的结论正确、 除了 在0时使用 CONV_RATE (我们更倾向于避免这种情况)、您是否有针对此问题的权变措施？
BQ25896-EVM664上逻辑分析仪输出的捕获数据：通道0和1为 I2C、通道2为 INT 引脚、通道3为 STAT 引脚。
电池插入时获得的结果：内部脉冲、与观察到的 NTC 故障振荡同步
在相同情况下、当电池拔下时获得的信息：
此外、当 VBUS 导通、我们拔下并插入电池时、INT 引脚和 STAT 引脚将开始以11Hz 的频率脉动、这似乎类似于此(未回答) 问题。 在 JP9和 JP10开启时发生了这种情况(NTC 的测量正常、正如这次预期的那样)。
您是否了解导致这种情况的原因？
STAT 和 INT 为11Hz。
CHRG_STAT 在"快速充电"和"充电终止完成"之间振荡
