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器件型号：BQ25622 工具/软件：
我 将我的 BQ25622设计附在这里时、当我将 VBUS 连接到5V 电源 、然后 BQ25622 IC 将过热、帮助我解决这是一个正确的设计、或者如果是、我必须对其进行修改、然后提供建议
工具/软件：
我 将我的 BQ25622设计附在这里时、当我将 VBUS 连接到5V 电源 、然后 BQ25622 IC 将过热、帮助我解决这是一个正确的设计、或者如果是、我必须对其进行修改、然后提供建议
您好@Garrett 感谢您的连续重播,现在我能够与没有 vbus,我 vbus=4.2v (max)的电池的 i2c 通信,
问题(1)如何在没有 VBUS 的情况下为电池充电、如果我连接 VBUS、则 IC 会升温。
(2)我在下面提供了我的代码 用于电池电量检测帮助我纠正它,如果你可以请。
(我使用的是 esp32s3)
代码：-
#include
#include "driver/i2c.h"
#include "freertos/freertos.h"
#include "freertos/task.h"
#define I2C_MASTER_NUM I2C_NUM_0
#define I2C_MASTER_SDA_IO 6.
#define I2C_MASTER_SCL_IO 5.
#define I2C_MASTER_FREQ_Hz 100000
#define BTS_ADDR 0x6B
#define REG_ADC_CTRL 0x26
#define REG_ADC_FUNC_DIS0 0x27
#define REG_VBAT_ADC 0x30
void i2c_master_init ()｛
I2C_CONFIG_t conf =｛
.mode = I2C_MODE_MASTER、
.sda_io_num = I2C_MASTER_SDA_IO、
.sda_pullup_en = GPIO_PULLUP_ENABLE
.scl_IO_num = I2C_MASTER_SCL_IO、
.scl_pullup_en = GPIO_PULLUP_ENABLE
.master.clk_speed = I2C_MASTER_FREQ_Hz
}；
I2C_PARAM_CONFIG (I2C_MASTER_NUM、&conf)；
I2C_DRIVER_INSTALL (I2C_MASTER_NUM、conf.mode、0、0、0)；
}
esp_err_t write_register (uint8_t reg、uint8_t data)｛
uint8_t buffer[2]=｛reg、data｝；
返回 i2c_master_write_to_device (I2C_MASTER_NUM、BQ25622 _ADDR、BUFFER、21000/ portTICK_PERIOD_MS)；
}
esp_err_t read_register (uint8_t reg、uint8_t *data、size_t len)｛
返回 i2c_master_write_read_device (I2C_MASTER_NUM、BQ25622 _ADDR、®、1、data、 LEN、1000/ portTICK_PERIOD_MS)；
}
void app_main (){
i2c_master_init ()；
//启用所有 ADC (VBAT 启用=位4 = 0)
uint8_t ADC_func_dis = 0x00；// 0b00000000 =启用全部
WRITE_REGISTER (REG_ADC_FUNC_DIS0、ADC_FUNC_dis)；
// ADC 控制寄存器(0x26)：
// ADC_EN=1、ADC_RATE=0 (连续)、ADC_SAMPLE=00 (12位)、
// ADC_AVG=0 (单个)、ADC_AVG_INIT_=1 (启动)
uint8_t ADC_ctrl =(1 << 7)|(0 << 6)|(0 << 5)|(0 << 4)|(0 << 3)|(1 << 2)；// 0x84
WRITE_REGISTER (REG_ADC_CTRL、ADC_Ctrl)；
while (1)｛
uint8_t ADC_RAW[2]；
READ_REGISTER (REG_VBAT_ADC、ADC_RAW、2)；
Uint16_t RAW_ADC =((ADC_RAW[0]<< 8)| ADC_RAW[1])>> 1；//位12：1
// 
仅打印原始 ADC 值
printf ("Raw ADC：%u\n"、RAW_ADC)；
vTaskDelay (PDMs_to_ticks (2000))；
}
}
您好@Garrett、我根据 EVM 原理图进行了更改后更新了原理图。 在这里,我给5V 的 VBUS 电池未连接获取 VSYS=3.7V 和 pg 引脚上的 LED 打开和 i2c 检测到,经过大约10min pg 引脚上的 LED 关闭测量的 VBUS=5V , VSYS=0 , i2c 无法检测.
在连接的同一 IC 电池上、VBAT =3.9v、VSYS=3.9v i2c vBus 不存在、检测到 i2c。
以上两种情况 CE 为高电平。
此处、我无法了解、我的 IC 已损坏或某些 IC 外设已损坏。 如果在这种情况下没有 损坏、那么为什么我在 VBUS=5V 时没有收到 VSYS。 如果 IC 损坏,那么为什么 IC 能够通过 i2c 通信时,电池.
仍然困惑,当 VBUS 和电池都存在时如何通过 i2c 与 IC 通信在这种情况下我的 IC 过热和损坏。
给我们适当的指南做这种工作的 IC proparly。
你好@Garratt ,这里,你想看到下面提供的 vbus,sw,vse,vbat 的波形.
(1) CE 为高电平时的 VBUS 和 SW 
(2) CE 为高电平时的 VBUS 和 VBAT 
(3) CE 为高电平时的 VBUS 和 VSYS 
(4) CE 为低电平时的 VBUS 和 SW 
(5) CE 为低电平时的 VBUS 和 VBAT 
(6) CE 为低电平时的 VBUS 和 VSYS 
此处、通道2 (蓝色)是 VBUS、其他是替代方案。
我们替换了新的 IC、然后将 VBUS 连接到4.9v 在引脚上获取 VBAT=2.5V (不存在电池)、VSYS = 3.7V 与 LED 条带连接、pg 引脚上的 LED 开启并能够读取约2.5V 的 VBAT ADC 值 、地址 0x16上的电阻器(给定0x20)、这是当 CE 为高电平时的情况。
当 CE 为低电平、VBUS = 4.9v、当 VBAT = 2.5V 且 VSYS = 3.7V 且 pg 和 stat 引脚均导通时、地址 0x16上的电阻为0x20、VBAT ADC 值为0；
在最安全的情况下、我们连接电池、因为在我们用 VBUS 和 VBAT 损坏 IC 之前。
为什么我没有得到 vadc 的数据在上述情况下,当 CE 是低的。
@TI 希望找到合适的解决方案、因为我们将在产品中大规模使用此 IC。
尊敬的 Ravi：
首先、很高兴听到您解决了有关 IC 加热的问题。
现在、为了解决您关于未充电的报告、您可以尝试以下实验吗？ 请测试 BAT 引脚输出电压在启用充电且实际未连接电池的情况下是否会升至大约4.2V？
预期情况是 BQ25622将在 BAT 处将10uF 输出电容器充电至4.2V、然后充电将终止、电压将衰减一些电压、然后再次充电至4.2V、这与下面所示的波形捕获类似。
如果 BQ25622在该测试中按预期工作、则它确认所有 IC 配置都正常、并且存在与电池包阻止充电具体相关的内容。
此致、
Garrett
